[发明专利]一种用于研究核聚变材料腐蚀沉积的辐照样品支架有效
| 申请号： | 201610888408.6 | 申请日： | 2016-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN106501290B | 公开（公告）日： | 2020-09-25 |
| 发明（设计）人： | 穆磊;丁锐;鄢容;陈俊凌 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01N23/20025 | 分类号： | G01N23/20025 |
| 代理公司： | 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 | 代理人： | 余成俊 |
| 地址： | 230031 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于研究核聚变材料腐蚀沉积的辐照样品支架，包括有支架底座和固定压板，支架底座呈三棱柱形且截面为等腰三角形，支架底座的两个相同侧面为左右对称的离子侧和电子侧表面，支架底座的离子侧和电子侧表面上分别开有方形槽，方形槽中匹配安装有固定压板，固定压板上开设有用来匹配安装样品A和样品B的两个台阶孔，样品A和样品B的底端分别设有台阶；支架底座的离子侧和电子侧表面上位于方形槽的正下方分别开有用于测量样品A和样品B处的等离子体参数的探针孔，支架底座上还设有用于与样品架连接的连接孔。本发明可增大样品腐蚀量，利用探针测得边界等离子体参数，结合RBS分析方法精确测算样品腐蚀沉积速率及分布。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 研究 聚变 材料 腐蚀 沉积 辐照 样品 支架 | ||
【主权项】：
一种用于研究核聚变材料腐蚀沉积的辐照样品支架，其特征在于：包括有支架底座和固定压板，支架底座前端呈三棱柱形且截面为等腰三角形，支架底座的两个相同侧面为左右对称的离子侧和电子侧表面，支架底座的离子侧和电子侧表面上分别开有方形槽，方形槽中匹配安装有固定压板，固定压板上开设有用来匹配安装样品A和样品B的两个台阶孔，样品A和样品B的底端分别设有台阶；支架底座的离子侧和电子侧表面上位于方形槽的正下方分别开有用于测量样品A和样品B处的等离子体参数的探针孔，支架底座上还设有用于与样品架连接的连接孔。
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