[发明专利]一种用于光纤光栅时间常数测量的阶跃温场发生装置

摘要

本发明提出一种用于光纤光栅时间常数测量的阶跃温场发生装置，该装置主要由温度场发生装置、控制电路两个模块构成，其中，温度场发生装置主要由电触头+、样品平台、电触头‑、底座支撑点动装置、位置传感器和温度传感器组成，控制电路主要由MCU模块、功放模块0、功放模块1、电触头控制单元、调理电路、串口模块、显示单元和输入单元组成；输入单元通过MCU模块将电触头的水平间距和样品的垂直位置调整每个电触头对应的初始位置，位置的调整通过X轴左侧电控位移平台、X轴右侧电控位移平台和Y轴电控位移平台实现，调节的距离通过输入单元输入，水平相对位置调节范围在1mm‑5cm之间。

主权项

1.一种用于光纤光栅时间常数测量的阶跃温场发生装置，其特征在于：该装置主要由温度场发生装置(1)、控制电路(2)两个模块构成，其中，温度场发生装置(1)主要由电触头+(3)、样品平台(4)、电触头‑(5)、底座支撑电动装置(6)、位置传感器(7)和温度传感器(8)组成，控制电路(2)主要由MCU模块(9)、功放模块0(10)、功放模块1、电触头控制单元(12)、调理电路(13)、串口模块(14)、显示单元(15)和输入单元(16)组成；控制电路(2)模块用于阶跃温场产生所需脉冲电压及电流的输出控制，温度场发生装置(1)模块则用于阶跃温场的产生，根据对温场阶跃范围的不同需求，选择配置不同类型的电触头以及控制不同的脉冲电压和电流输出；MCU模块(9)输出控制信号到电触头控制单元(12)，产生的模拟控制信号输入电触头+(3)和电触头‑(5)中，实现瞬时高温的产生；同时MCU模块(9)输出控制信息到底座支撑电动装置(6)，样品平台(4)的空间位置信息通过位置传感器(7)输入到MCU模块(9)中，实现温度梯度场和样品空间位置的调节；温度传感器(8)监测的温度信息经过调理电路(13)进行处理后输入到MCU模块(9)进行处理。