[发明专利]一种陶瓷-有机聚合物复合薄膜介电常数模拟方法有效

专利信息
申请号: 201610872502.2 申请日: 2016-09-30
公开(公告)号: CN106528497B 公开(公告)日: 2018-10-26
发明(设计)人: 王武尚;杨静;涂国荣 申请(专利权)人: 西北核技术研究所
主分类号: G06F17/15 分类号: G06F17/15;C08L27/16;C08K9/06;C08K3/24;C08J5/18
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 汪海艳
地址: 710024 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及复合材料介电常数的模拟,特别涉及一种陶瓷‑有机聚合物复合薄膜介电常数的模拟方法。本发明提供的陶瓷‑有机聚合物复合薄膜介电常数的模拟方法,是在Logarithmic模型中引入陶瓷颗粒的形状因子n,得到改进Logarithmic模型,可在陶瓷体积分数0%至70%范围内更准确地模拟陶瓷‑有机聚合物复合薄膜的介电常数。
搜索关键词: 一种 陶瓷 有机 聚合物 复合 薄膜 介电常数 模拟 方法
【主权项】:
1.一种陶瓷‑有机聚合物复合薄膜介电常数模拟方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤一:制备陶瓷‑有机聚合物复合薄膜样品;步骤二:采用薄膜材料介电常数标准测量方法测量陶瓷‑有机聚合物复合薄膜样品、陶瓷‑有机聚合物复合薄膜样品中所用陶瓷和聚合物材料的介电常数;步骤三:将陶瓷‑有机聚合物复合薄膜样品的介电常数ε,聚合物的介电常数ε1,陶瓷的介电常数ε2,复合薄膜中陶瓷颗粒的体积分数f代入改进Logarithmic模型的表达式中,求出陶瓷颗粒的形状因子n;所述改进Logarithmic模型的表达式为lnε=(1‑nf)lnε1+nflnε2;步骤四:确定形状因子n后,得到改进Logarithmic模型的数学表达式lnε'=(1‑nf')lnε1'+nf'lnε2',式中ε'为待测陶瓷‑有机聚合物复合薄膜介电常数,ε1'为待测陶瓷‑有机聚合物复合薄膜样品中所用聚合物的介电常数,ε2'为待测陶瓷‑有机聚合物复合薄膜样品中所用陶瓷的介电常数,f'为待测陶瓷‑有机聚合物复合薄膜中陶瓷颗粒的体积分数。
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