[发明专利]一种恒温晶体振荡器最佳温度系数点的确定方法

摘要

本发明公开了一种恒温晶体振荡器最佳温度系数点的确定方法。提供恒温晶体振荡器，通过改变高低温试验箱的设定温度和改变所述恒温晶体振荡器内部恒温槽的温度相结合的方法，测得所述的恒温晶体振荡器的频率‑温度特性数据和所述的恒温槽中的晶体的频率‑温度特性数据，并综合所述的数据用曲线拟合的方法计算出恒温晶体振荡器最佳温度系数点。所述自动系统包括，运算控制模块、恒温晶体振荡器采样通讯板、高低温试验箱、频率计、频标。用所述的自动系统，按照本发明的方法，可以高效率地实现对大批量的恒温晶体振荡器进行最佳温度系数点的准确确定和设置，提高所述恒温晶体振荡器的频率‑温度稳定度，提高生产效率和产品的一致性。

主权项

1.一种恒温晶体振荡器最佳温度系数点的确定方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：初始化运算控制模块，所述的初始化是设定高低温试验箱改变的温度个数及每次的温度值；并设定每个恒温晶体振荡器的恒温槽改变的温度个数及每次的温度值；频率计和频标实时采集恒温晶体振荡器的频率值；步骤2：运算控制模块根据初始化过程通过射频选择开关数据总线设置高低温试验箱的初始温度，将该初始温度作为当前高低温试验箱温度；步骤3：在当前高低温试验箱温度下，运算控制模块根据初始化过程通过射频选择开关数据总线设置每个恒温晶体振荡器恒温槽的初始温度，将该初始温度作为当前恒温槽温度；步骤4：在当前高低温试验箱温度下和当前恒温槽温度下，频率计和频标把采集的每个恒温晶体振荡器的频率值通过射频选择开关数据总线保存到运算控制模块；步骤5：运算控制模块通过射频选择开关数据总线设定每个恒温晶体振荡器恒温槽的温度为下一个温度值，将该温度值作为当前恒温槽温度；步骤6：跳转到步骤4，直到完成所设定恒温槽改变的温度个数的频率值的采集和存储；步骤7：将高低温试验箱的温度设定为下一个温度，将该温度作为当前高低温试验箱温度；步骤8：跳转到步骤3，直到完成所设定高低温试验箱改变的温度个数的频率值的采集和存储；步骤9：运算控制模块根据存储的频率值，描绘出每个恒温晶体振荡器的频率‑高低温试验箱温度‑恒温槽温度的三维曲线；步骤10：运算控制模块用曲线拟合的方法，对每个恒温晶体振荡器，计算出频率‑高低温试验箱温度特性曲线在频率轴方向上峰峰值最小的恒温槽温度的设定值，该设定值就是恒温晶体振荡器的最佳温度系数点；步骤11：运算控制模块通过射频选择开关数据总线将每个恒温晶体振荡器的恒温槽的温度设定在相应的最佳温度系数点上，并将最佳温度系数点的恒温槽的温度设定值存入所述恒温晶体振荡器中；完成恒温晶体振荡器最佳温度系数点的确定。