[发明专利]一种用于数字电路实践教学的芯片检测系统在审

专利信息
申请号: 201610859680.1 申请日: 2016-09-28
公开(公告)号: CN106483450A 公开(公告)日: 2017-03-08
发明(设计)人: 刘艳;张斌;高茜;唐海贤;景昊 申请(专利权)人: 河海大学常州校区
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司32224 代理人: 董建林
地址: 213022 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种用于数字电路实践教学的芯片检测系统,它涉及芯片测试装置技术领域。它包括模式选择模块、芯片检测模块和结果显示模块,模式选择模块包括有拨码开关,芯片检测模块包括有51单片机、芯片插座、第一继电器、第二继电器;结果显示模块包括有LED灯和蜂鸣器,将所述芯片检测模块的检测结果通过LED灯、蜂鸣器显示出来;51单片机分别与拨码开关、芯片插座、第一继电器、第二继电器、LED灯、蜂鸣器连接,芯片插座分别与第一继电器、第二继电器连接,第一继电器、第二继电器接地。本发明操作方便,无需人工连接复杂线路,能够方便、准确地判断芯片是否损坏,并给出检测结果,结果可靠,有效提高教学和学习效率。
搜索关键词: 一种 用于 数字电路 实践 教学 芯片 检测 系统
【主权项】:
一种用于数字电路实践教学的芯片检测系统,其特征在于:包括模式选择模块、芯片检测模块和结果显示模块,模式选择模块包括有拨码开关(1),芯片检测模块包括有51单片机(2)、芯片插座(3)、第一继电器(4)、第二继电器(5),结果显示模块包括有LED灯(6)和蜂鸣器(7),51单片机(2)分别与拨码开关(1)、芯片插座(3)、第一继电器(4)、第二继电器(5)、LED灯(6)、蜂鸣器(7)连接,芯片插座(3)分别与第一继电器(4)、第二继电器(5)连接,第一继电器(4)、第二继电器(5)接地。
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