[发明专利]一种半导体器件及其制造方法和电子装置在审

专利信息
申请号: 201610843991.9 申请日: 2016-09-22
公开(公告)号: CN107863361A 公开(公告)日: 2018-03-30
发明(设计)人: 闫德海;靳颖;牟睿;牛健 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京市磐华律师事务所11336 代理人: 董巍,高伟
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种半导体器件及其制造方法和电子装置,涉及半导体技术领域。该方法包括提供半导体衬底,在半导体衬底上形成有第一外延层,所述第一外延层包括若干预定作为光电二极管区的区域;在第一外延层中相邻光电二极管区之间形成深沟槽;在深沟槽的底部和侧壁上形成衬垫层;在深沟槽中形成多晶硅层,该多晶硅层的顶面低于第一外延的顶面,以部分填充深沟槽;在深沟槽中的所述多晶硅层上形成覆盖层,以填充满深沟槽形成深沟槽隔离结构;在第一外延层的表面上生长第二外延层,并使第二外延层的顶面高于深沟槽隔离结构的顶面。根据本发明的方法,改善了相邻光电二极管之间的隔离性能,提高了器件的性能和良率。
搜索关键词: 一种 半导体器件 及其 制造 方法 电子 装置
【主权项】:
一种半导体器件的制造方法,其特征在于,所述方法包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底上形成有第一外延层,所述第一外延层包括若干预定作为光电二极管区的区域;在所述第一外延层中相邻所述光电二极管区之间形成深沟槽;在所述深沟槽的底部和侧壁上形成衬垫层;在所述深沟槽中形成多晶硅层,该多晶硅层的顶面低于所述第一外延的顶面,以部分填充所述深沟槽;在所述深沟槽中的所述多晶硅层上形成覆盖层,以填充满所述深沟槽形成深沟槽隔离结构;在所述第一外延层的表面上生长第二外延层,并使所述第二外延层的顶面高于所述深沟槽隔离结构的顶面。
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