[发明专利]模拟太阳能组件在实际应用环境下的加速PID性能测试方法

摘要

本发明涉及一种模拟太阳能组件在实际应用环境下的加速PID性能测试方法，其中所述的方法具体包括以下步骤(1)测试组件的封装(2)测试电池片的电致发光图像和电性能；(3)把盛有水的容器放置环境实验箱中，对容器中的水进行加热；(4)水的温度至预设温度后，将测试组件的玻璃面朝下浮于水面；(5)将测试组件处于‑1000V的直流电压下；(6)测试作用24小时，再次测试的电池片的电致发光图像和电性能；(7)根据实验前后电池片的电致发光图像和电性能的变化情况，得出电池片的功率衰减百分数。采用本发明中的测试方法，能模拟太阳能组件在高温高湿的环境中，加速老化的实验方法，快速准确的评估电池片是否具备抗PID的性能。

主权项

一种模拟太阳能组件在实际应用环境下的加速PID性能测试方法，其特征在于，所述的方法具体包括以下步骤：(1)测试组件的封装，将数个待测试的电池片进行封装得到所述的测试组件，所述的测试组件的封装边框为铝边框；(2)测试所述的电池片的电致发光图像和电性能；(3)把盛有水的容器放置在能提供‑40℃～85℃温度的环境实验箱中，对所述的容器中的水进行加热；(4)所述的容器中的水的温度至预设温度后，将所述的测试组件放入所述的盛有水的容器中，所述的测试组件的玻璃面朝下，并使所述的测试组件浮于水面；(5)将所述的测试组件的正负极短路接到外接直流电源的负极，所述的铝边框接到直流电源的正级，所述的直流电源电压设为1000V，以使所述的电池片处于‑1000V的直流电压下；(6)测试作用24小时，关闭所述的环境实验箱，再次测试所述的电池片的电致发光图像和电性能；(7)根据实验前后所述的电池片的电致发光图像和电性能的变化情况，得出所述的电池片的功率衰减百分数，若所述的电池片功率衰减百分数小于5％，则测试结果为所述的电池片通过PID测试，若所述的电池片功率衰减百分数大于或等于5％，则测试结果为所述的电池片不通过PID测试。