[发明专利]一种面结构光三维测量系统及其测量方法

摘要

本发明公开了一种面结构光三维测量系统，该系统将条纹投影结构光照明与条纹反射结构光照明有机融合在一起，采用复合迭代的算法，实现了不同粗糙度物体的三维表面形貌测量,包括漫反射物体、类镜面物体、镜面物体，克服了传统测量系统的测量对象单一的局限性。该系统主要由数字投影模块(DLP)、LCD显示屏、透镜、分束镜和CCD相机组成，结构紧凑，且仅采用一个透镜消除了系统采用条纹反射结构光照明时存在的系统多义性问题，可以更高精度测量不同粗糙度物体的三维表面形貌。本发明的主要增益：设计了一种可以高精度测量不同粗糙度物体三维表面形貌的面结构光三维测量系统。

主权项

1.一种面结构光三维测量系统，其特征在于，包括分束镜，用于光路折叠；数字投影模块，将条纹投影结构光照射至待测物体表面；LCD显示屏，通过分束镜将相对条纹投影结构光具有相移的条纹反射结构光照射至待测物体表面；CCD相机，通过分束镜接收经待测物体表面调制的条纹反射结构光或调制的条纹投影结构光；处理模块，控制数字投影模块投影或LCD显示屏照明，并处理由CCD相机对应调制条纹反射结构光或调制条纹投影结构光反馈输出的图像数据；还包括透镜，所述的LCD显示屏依次通过透镜和分束镜将条纹反射结构光照射至待测物体表面。