[发明专利]腐蚀外形测绘装置在审

专利信息
申请号: 201610828003.3 申请日: 2016-09-16
公开(公告)号: CN106404650A 公开(公告)日: 2017-02-15
发明(设计)人: 余建星;王华昆;余杨;樊志远;刘晓强;刘杰 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01N17/00 分类号: G01N17/00;G01B5/00
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 代理人: 程毓英
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及一种腐蚀外形测绘装置包括画板1,整体支架3,固定在整体支架3底部的滑杆8,置于滑杆8上的平台滑块10,试样定位模块和测绘模块,画板1固定在整体支架3的上部,与位于整体支架底部3的滑杆8相互垂直,其中试样定位模块包括置于平台滑块10之上并可升降的基准平台11;测绘模块包括横梁4、测绘杆12、第一压紧弹簧13、测绘滑块14、定位四棱柱15、第二压紧弹簧16和绘制部件17,横梁4固定在整体支架的上部,测绘滑块14可沿着横梁水平方向移动;测绘滑块14的竖直方向中部开有四边形孔槽,用于穿过定位四棱柱15,测绘杆12置于定位四棱柱15内并与其固定连接。本发明具有精度较高,制作成本低,便于携带的优点。
搜索关键词: 腐蚀 外形 测绘 装置
【主权项】:
一种腐蚀外形测绘装置包括:画板(1),整体支架(3),固定在整体支架(3)底部的滑杆(8),置于滑杆(8)上的平台滑块(10),试样定位模块和测绘模块,画板(1)固定在整体支架(3)的上部,与位于整体支架底部(3)的滑杆(8)相互垂直。其中:试样定位模块包括置于平台滑块(10)之上并可升降的基准平台(11),试样通过定位螺栓(5)和定位螺栓支架(6)固定在基准平台(11)上;测绘模块包括横梁(4)、测绘杆(12)、第一压紧弹簧(13)、测绘滑块(14)、定位四棱柱(15)、第二压紧弹簧(16)和绘制部件(17),横梁(4)固定在整体支架的上部,在其上开设有与支架底部的滑杆(9)相互垂直的滑槽(2),测绘滑块(14)可沿着横梁水平方向移动;测绘滑块(14)的竖直方向中部开有四边形孔槽,用于穿过定位四棱柱(15),测绘杆(12)置于定位四棱柱(15)内并与其固定连接;测绘杆(12)的顶部折弯成(90)°,其底端和顶端分别固定连接一个弹簧卡片(18),(19),底端由第一压紧弹簧(13)通过弹簧卡片(19)将测绘杆(12)向下顶紧在试样表面上,第一压紧弹簧(13)顶端作用在测绘滑块(14)上;测绘杆(12)顶端由第二压紧弹簧(16)将测绘部件(17)顶紧在画板上;在测绘杆(12)的顶端设置有圆柱形孔槽,绘制部件(17)的后端为与此孔槽相匹配的导杆(20)。
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