[发明专利]寿命推定电路及使用了该寿命推定电路的半导体装置有效
| 申请号： | 201610827463.4 | 申请日： | 2016-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN106531704B | 公开（公告）日： | 2019-10-22 |
| 发明（设计）人： | 鱼田紫织;为谷典孝;井上贵公;米山玲 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | H01L23/34 | 分类号： | H01L23/34 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 何立波;张天舒 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 寿命推定电路(3)具有：温度检测器(4)，其对功率元件部(1)的温度进行检测；拐点检测部(5)，其基于温度检测器(4)的输出信号(Vt)，对功率元件部(1)的温度变化的拐点进行检测；运算部(8)，其求出本次检测出的拐点处的功率元件部(1)的温度与前次检测出的拐点处的功率元件部(1)的温度之差的绝对值；计数电路(9)，其对温度差的绝对值达到阈值温度(Tth)的次数进行计数；以及信号发生部(10)，其在计数电路(9)的计数值(C)达到阈值次数(Cth)的情况下，输出表示功率元件部(1)的寿命已至的警告信号(AL)。 | ||
| 搜索关键词： | 寿命 推定 电路 使用 半导体 装置 | ||
【主权项】：
1.一种寿命推定电路，其对功率元件的寿命进行推定，该寿命推定电路具有温度检测器，该温度检测器对所述功率元件的温度进行检测，该寿命推定电路的特征在于,还具备：拐点检测部，其基于所述温度检测器的检测结果，对所述功率元件的温度变化的拐点进行检测；运算部，其求出由所述拐点检测部本次检测出的拐点处的所述功率元件的温度与前次检测出的拐点处的所述功率元件的温度之差的绝对值；计数电路，其在由所述运算部本次求出的温度差的绝对值比第1阈值温度大的情况下，对第1温度变化的次数进行递增，在所述本次求出的温度差的绝对值比所述第1阈值温度小的情况下，维持所述第1温度变化的次数；以及信号发生部，其基于所述计数电路的计数值，输出与所述功率元件的寿命相关的信号。
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