[发明专利]一种在常温和低温下检测材料渗漏性能的方法和装置

摘要

本发明涉及一种在常温或低温下检测材料渗漏性能的方法和装置。该方法和装置基于压差法和荧光法双重原理，在测试试样的上表面覆盖荧光检漏液并通入指定压力的高压气体，根据下表面的气体压力变化计算试样的气体透过量，并通过紫外光照射试样下表面观察荧光渗漏情况，确定渗漏点位置。此外，通过使用由荧光剂与液氮混合获得的荧光低温检漏液，可实现低温下材料渗漏性能的检测。本发明提供的装置由高压腔室、低压腔室和观察室组成，试样置于高压腔室和低压腔室之间。实施本方法所述方法和装置，可在给出材料气体透过量的同时，明确渗漏点位置及相应渗漏情况，有利于缺陷位置的确定及修复，并可实现常温和低温条件下材料渗漏性能的检测。

主权项

一种在常温和低温下检测材料渗漏性能的方法，其特征是，包括步骤：(a)将荧光检漏液与液氮混合，获得荧光低温检漏液；(b)对测试试样上、下表面所在空间抽真空，达到一定真空度后保持密闭；(c)在测试试样的上表面覆盖荧光检漏液或所述荧光低温检漏液，并充入一定压力的测试气体；(d)记录试样下表面一侧的气体压力随时间的增量，计算试样的气体透过量；(e)用紫外光照射试样下表面，通过荧光确定渗漏点位置和相应渗漏情况。