[发明专利]一种温度计的检测方法及温度计的检测装置

摘要

本发明涉及温度计领域，公开了一种温度计的检测方法及温度计的检测装置，在接收到用户输入的记载有测试环境温度值T0的检测指令后，开始记录温度传感器采集到的温度计的每个温度测量值并最终获取温度测量值的最终稳定值T1，根据测试环境温度值T0和最终稳定值T1判断温度计是否合格，并将判断结果通过设置在温度计上的指示部件向用户指示温度计合格或不合格。由于温度计的整个检测过程由程序自动控制，不存在人为的干扰，因此减少了温度计检测的时间，提高了温度计检测的效率；同时，温度计是否合格由程序自动判断并通过指示部件向用户指示判断结果，不存在人为读数，避免了人为误判，提高了温度计检测的准确性。

主权项

1.一种温度计的检测方法，其特征在于，包括：在接收到用户输入的记载有测试环境温度值T0的检测指令时，开始记录温度计内的温度传感器采集到的每个温度测量值；获取所述温度测量值的最终稳定值T1；根据所述测试环境温度值T0和所述最终稳定值T1判断所述温度计是否合格；根据判断结果通过设置在所述温度计上的指示部件向用户指示所述温度计合格或不合格；所述温度计的检测方法还包括在接收到用户输入的记载有测试环境温度值T0的检测指令时，开始记录通过温度计实时采集到的每个温度测量值所对应的时间点的步骤；所述根据所述测试环境温度值T0和所述最终稳定值T1判断所述温度计是否合格，具体包括：计算所述测试环境温度值T0和所述最终稳定值T1的差值；当所述差值的绝对值大于预设的第一温度差阈值D1时，判定所述温度计不合格；当所述差值的绝对值小于或等于D1时，根据T2＝T1±D2查找参考温度值T2，并根据T2和T1分别对应的时间点计算从T2变化至T1所需要的变化时长；其中，D2为预设的第二温度差阈值；当所述变化时长小于预设的第二时长阈值或大于预设的第三时长阈值时，判定所述温度计不合格；当所述变化时长大于或等于所述第二时长阈值并且小于或等于所述第三时长阈值时，判定所述温度计合格。