[发明专利]使铌氮氧化物层生长的方法在审
申请号: | 201610802484.0 | 申请日: | 2016-09-05 |
公开(公告)号: | CN106552659A | 公开(公告)日: | 2017-04-05 |
发明(设计)人: | 菊地谅介;中村透;田村聪;村濑英昭;羽藤一仁 | 申请(专利权)人: | 松下知识产权经营株式会社 |
主分类号: | B01J27/24 | 分类号: | B01J27/24;C23C14/06;C23C14/34;C25B1/04;C25B11/06 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所11247 | 代理人: | 刘航;段承恩 |
地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供使具有小的载流子密度的铌氮氧化物层生长的方法。本发明为使铌氮氧化物层生长的方法,该方法具备以下工序:工序(a),一边将结晶性氧化钛基板的温度维持为600℃以上且750℃以下,一边使第1铌氮氧化物膜在所述结晶性氧化钛基板上生长;和工序(b),在所述工序(a)之后,一边将所述结晶性氧化钛基板的温度维持为350℃以上,一边使第2铌氮氧化物膜在所述第1铌氮氧化物膜上生长。在此,所述铌氮氧化物层具备所述第1铌氮氧化物膜和所述第2铌氮氧化物膜。 | ||
搜索关键词: | 使铌氮 氧化物 生长 方法 | ||
【主权项】:
一种使铌氮氧化物层生长的方法,具备工序(a)和工序(b),工序(a):一边将结晶性氧化钛基板的温度维持为600℃以上且750℃以下,一边使第1铌氮氧化物膜在所述结晶性氧化钛基板上生长;工序(b):在所述工序(a)之后,一边将所述结晶性氧化钛基板的温度维持为350℃以上,一边使第2铌氮氧化物膜在所述第1铌氮氧化物膜上生长,其中,所述铌氮氧化物层具备所述第1铌氮氧化物膜和所述第2铌氮氧化物膜。
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