[发明专利]数字ASIC芯片测试系统及方法

摘要

本发明公开了一种数字ASIC芯片测试系统及方法，系统包括FPGA芯片、结果串口、程序FLASH，待检测ASIC芯片内部包括一个MCU；所述的FPGA芯片与结果串口中双向连接，FPGA芯片的A/D数据输入接口和SPI输入接口与待测试ASIC芯片连接，待测试ASIC芯片的SPI输出接口与FPGA芯片连接；待测试ASIC芯片还与程序FLASH连接，用于向MCU提供程序。本发明针对各种数字化的ASIC都可以使用的串口进行芯片的测试，解决现有技术采用JTAG的方式对芯片进行检测是需要专用的工具进行测试，而本发明将这种数字ASIC芯片测试系统直接植入到ASIC的设计中，使用一个串口就能够完成对数字ASIC芯片的测试，提高可用性。

主权项

数字ASIC芯片测试系统，其特征在于：包括FPGA芯片、结果串口、程序FLASH，待检测ASIC芯片内部包括一个MCU；所述的FPGA芯片与结果串口中双向连接，FPGA芯片的A/D数据输入接口和SPI输入接口与待测试ASIC芯片连接，待测试ASIC芯片的SPI输出接口与FPGA芯片连接；待测试ASIC芯片还与程序FLASH连接，用于向MCU提供程序；所述结果串口用于对测试参数的输入和比对结果的输出，所述测试参数和比对结果均包括类型单元、地址单元、至少一个数据单元；所述FPGA芯片对所述类型单元、地址单元和数据单元进行分析，根据分析结果通过SPI输入接口向待测试ASIC芯片发送配置参数数据，或者通过A/D数据输入接口向待测试ASIC芯片发送用于对比的调制数据；待测试ASIC芯片根据获取到的数据以及程序FLASH中的程序进行解调后，将数据的对比结果通过SPI输出接口发送至FPGA芯片，FPGA芯片向结果串口发送对比结果。