[发明专利]一种利用纤芯失配干涉结构测量温度的方法在审
| 申请号： | 201610741972.5 | 申请日： | 2016-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN106197742A | 公开（公告）日： | 2016-12-07 |
| 发明（设计）人： | 祝连庆;何巍;董明利;娄小平;刘锋;闫光;李红 | 申请（专利权）人： | 北京信息科技大学 |
| 主分类号： | G01K11/32 | 分类号： | G01K11/32 |
| 代理公司： | 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11416 | 代理人： | 顾珊;庞立岩 |
| 地址： | 100085 北京市海淀区清*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种利用纤芯失配干涉结构测量温度的方法，所述方法包括如下步骤：a)搭建纤芯错位熔接干涉结构，所述纤芯错位熔接干涉结构包括依次连接的泵浦源，波分复用器，增益光纤，第一单模光纤，第二单模光纤，第三单模光纤和光谱分析仪；b)对第一单模光纤，第二单模光纤和第三单模光纤进行光纤错位熔接；c)测量待测温控装置的外界温度：将第一单模光纤、第二单模光纤和第三单模光纤与温控装置组合为一体，根据不同温度时波谷处的波长值的变化，记录梳状谱移动的长度，得到梳状谱随温度的变化曲线，选取测量点波长，此时光谱波长曲线发生漂移，根据漂移量通过以下公式可以推断出外界温度：Y＝aX‑b，其中X为温度，Y为变化波长，a，b为常数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 失配 干涉 结构 测量 温度 方法 | ||
【主权项】：
一种利用纤芯失配干涉结构测量温度的方法，所述方法包括如下步骤：a)搭建纤芯错位熔接干涉结构，所述纤芯错位熔接干涉结构包括依次连接的泵浦源，波分复用器，增益光纤，第一单模光纤，第二单模光纤，第三单模光纤和光谱分析仪；b)对第一单模光纤，第二单模光纤和第三单模光纤进行光纤错位熔接；c)测量待测温控装置的外界温度：将第一单模光纤、第二单模光纤和第三单模光纤与温控装置组合为一体，根据不同温度时波谷处的波长值的变化，记录梳状谱移动的长度，得到梳状谱随温度的变化曲线，选取测量点波长，此时光谱波长曲线发生漂移，根据漂移量通过以下公式可以推断出外界温度：Y＝aX‑b，其中X为温度，Y为变化波长，a，b为常数。
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