[发明专利]电子元件老化测试装置在审
| 申请号： | 201610728507.8 | 申请日： | 2016-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN106405274A | 公开（公告）日： | 2017-02-15 |
| 发明（设计）人： | 方祥武;王智会;高憬楠;黄寒寒;尹红葵;徐鹏飞 | 申请（专利权）人： | 深圳振华富电子有限公司;中国振华（集团）科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人： | 吴平 |
| 地址： | 518109 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电子元件老化测试装置，包括载板和侧导向板。使用该电子元件老化测试装置，无需将电子元件焊接在PCB板上进行老化测试，只需将电子元件放置于安装槽中，通过侧导电针和中间导电板分别与电子元件的两个端电极电连接，然后与外接电源连接即可进行电流老化测试，不损伤产品，因此可对所有产品进行测试，有效杜绝产品缺陷，使用方便快捷，稳定准确，可批量化测试，提高工作效率，降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种电子元件老化测试装置，其特征在于，包括：载板，所述载板上设有安装槽，所述安装槽的一侧设有用于与电子元件端电极电连接的中间导电板，所述安装槽侧壁上开设有通孔；侧导向板，位于所述载板的一侧，可相对所述载板移动，所述侧导向板上固设有侧导电针，所述侧导电针的一端可通过所述通孔并伸入所述安装槽，用于与所述电子元件的另一端电极电连接。
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