[发明专利]一种太赫兹透射成像装置及方法

摘要

本发明提供了一种太赫兹透射成像装置，包括依次设置于同一光路上的太赫兹源、第一准直聚焦系统、被测样品、第二准直聚焦系统和探测器。太赫兹波经过第一准直聚焦系统聚焦在被测样品上，再由第二准直聚焦系统聚焦于探测器，对探测器接收的信号进行分析处理从而得到相应的图像。在被测样品的成像区域内固定设置有金属材质的定位标记，定位标记对太赫兹波具有良好的反射效果，成像时定位标记所在位置呈现明显的阴影，很容易分辨。定位标记与被测样品的实际空间位置已经确定，通过定位标记的成像与两者的实际位置相互比较能够精确地实现成像定位，更加准确地判定图像尺寸。本发明提供的太赫兹透射成像方法可以实现相同的技术效果。

主权项

一种太赫兹透射成像装置，其特征在于，包括依次设置于同一光路上的太赫兹源(1)、第一准直聚焦系统(2)、第二准直聚焦系统(4)和探测器(5)；被测样品(6)设置于所述第一准直聚焦系统(2)与所述第二准直聚焦系统(4)之间的光路上，所述被测样品(6)的成像区域内固定设置金属的定位标记(7)。