[发明专利]一种晶体硅块表面研磨及杂质检测一体化装置在审
| 申请号： | 201610716409.2 | 申请日： | 2016-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN106124525A | 公开（公告）日： | 2016-11-16 |
| 发明（设计）人： | 张涛 | 申请（专利权）人： | 镇江荣德新能源科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;B08B3/02;B24B37/04 |
| 代理公司： | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人： | 杨晓玲 |
| 地址： | 212200 江苏省镇*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种晶体硅块表面研磨及杂质检测一体化装置，包括粗磨机、精磨设备、清洗干燥装置、红外探测装置及带轮机；其中，所述带轮机设置有传送履带，传送履带用于放置硅块；传送履带的侧面沿着传送履带的运行方向依次设置有粗磨机、精磨设备、清洗干燥装置及红外探测装置；所述红外探测装置包括两个机械臂、红外光源、红外摄像头以及计算机存储设备，其中红外光源、红外摄像头相对设置在传送履带的两侧，红外摄像头通过数据线连接到所述计算机存储设备上；两个机械臂用于夹持住硅块的两端，通过伺服电机控制两个机械臂转动。本发明节省人工，操作简单，提高了检测效率，减少了晶砖划伤、崩边的可能，增强了硅块杂质检测的清晰度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶体 表面 研磨 杂质 检测 一体化 装置 | ||
【主权项】：
一种晶体硅块表面研磨及杂质检测一体化装置，其特征在于，包括粗磨机(2)、精磨设备(3)、清洗干燥装置、红外探测装置及带轮机(11)；其中，所述带轮机(11)设有传送履带，传送履带用于放置硅块(1)；传送履带的侧面沿着传送履带的运行方向依次设置有粗磨机(2)、精磨设备(3)、清洗干燥装置及红外探测装置；所述清洗干燥装置包括清洗机(4)、烘干机(5)，相对设置在传送履带的两侧；所述红外探测装置包括两个机械臂(6,7)、红外光源(8)、红外摄像头(9)以及计算机存储设备，其中红外光源(8)、红外摄像头(9)相对设置在传送履带的两侧，红外摄像头(9)通过数据线连接到所述计算机存储设备上；两个机械臂(6,7)用于夹持住硅块(1)的两端，通过伺服电机控制两个机械臂(6,7)转动。
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