[发明专利]基于谐振特性的电容式电压互感器介质损耗测试方法有效

专利信息
申请号: 201610697068.9 申请日: 2016-08-19
公开(公告)号: CN106249053B 公开(公告)日: 2018-10-30
发明(设计)人: 汪锐 申请(专利权)人: 汪锐
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 郭受刚
地址: 620000 四川省眉山市*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基于谐振特性的电容式电压互感器介质损耗测试方法,包括:建立电容式电压互感器的谐振电路模型;保持电路总电流不变,获得所述谐振电路模型在谐振状态下和非谐振状态下的有功功率增量和无功功率增量;根据获得与中压电容同封装的高压电容的介质损耗和中压电容的介质损耗,其中,tgδ1为与中压电容同封装的高压电容的介质损耗,tgδ2为中压电容的介质损耗,ΔP为所述谐振电路模型在谐振状态下和非谐振状态下的有功功率增量,ΔQ为所述谐振电路模型在谐振状态下和非谐振状态下的无功功率增量。本发明利用CVT电路结构的谐振特性,建立的基于谐振特性的CVT介质损耗测试模型较常规正接法、反接法及自激法测试模型更加精确。
搜索关键词: 基于 谐振 特性 电容 电压互感器 介质 损耗 测试 方法
【主权项】:
1.一种基于谐振特性的电容式电压互感器介质损耗测试方法,其特征在于,包括:建立电容式电压互感器的谐振电路模型;保持电路总电流不变,获得所述谐振电路模型在谐振状态下和非谐振状态下的有功功率增量和无功功率增量;根据获得与中压电容同封装的高压电容的介质损耗和中压电容的介质损耗,其中,tgδ1为与中压电容同封装的高压电容的介质损耗,tgδ2为中压电容的介质损耗,ΔP为所述谐振电路模型在谐振状态下和非谐振状态下的有功功率增量,ΔQ为所述谐振电路模型在谐振状态下和非谐振状态下的无功功率增量;建立电容式电压互感器的谐振电路模型包括:对于110kV以上电压等级的电容式电压互感器,提供变频电源,将变频电源的一端连接电磁单元的接地端,将变频电源的另一端、与中压电容同封装的高压电容连接的法兰以及电容分压器的接地端接地,将中间变压器的第一主二次绕组和第二主二次绕组并联后外接电感,并解开阻尼电阻。
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