[发明专利]一种测量密封面动环微位移的系统有效
| 申请号： | 201610686511.2 | 申请日： | 2016-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN106323186B | 公开（公告）日： | 2019-06-07 |
| 发明（设计）人： | 欧中华;汪豫;贾敏;龚小进;王刚;刘永 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01B11/14 | 分类号： | G01B11/14 |
| 代理公司： | 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 | 代理人： | 徐金琼 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种测量密封面动环微位移的系统，属于位移精密测量技术领域，解决机械密封结构空间较小、温度高、环境复杂，难以精确的监测密封面动环微位移的问题。本发明包括静环和动环，现场测量装置和安全区装置；所述现场测量装置包括设置在静环上的下夹具、设置在下夹具上的上夹具、设置在上夹具和下夹具之内的铠装高温光纤探头、与铠装高温光纤探头相连接的铠装高温光纤和设置在动环上的法兰；所述安全区装置包括光源、光环行器、光谱仪和信号处理装置，所述光源的输出端与光环行器的1端口相连接，铠装高温光纤与光环行器的2端口相连接，光谱仪的输入端与光环行器的3端口相连接，光谱仪的输出端与信号处理装置的输入端相连接。用于测量密封面动环微位移。 | ||
| 搜索关键词： | 动环 高温光纤 光环行器 密封面 微位移 铠装 光谱仪 现场测量装置 信号处理装置 安全区装置 测量 上夹具 输出端 下夹具 探头 静环 光源 机械密封结构 精密测量技术 夹具 输入端 法兰 监测 统一 | ||
【主权项】：
1.一种测量密封面动环微位移的系统，包括静环(1)和动环(2)，其特征在于：包括现场测量装置和安全区装置；所述现场测量装置包括设置在静环(1)上的下夹具(5)、设置在下夹具(5)上的上夹具(4)、设置在上夹具(4)和下夹具(5)之内的铠装高温光纤探头(3)、与铠装高温光纤探头(3)相连接的铠装高温光纤(16)和设置在动环(2)上的法兰(6)；所述安全区装置包括光源(7)、光环行器(8)、光谱仪(9)和信号处理装置(10)，所述光源(7)的输出端与光环行器(8)的1端口相连接，铠装高温光纤(16)与光环行器(8)的2端口相连接，光谱仪(9)的输入端与光环行器(8)的3端口相连接，光谱仪(9)的输出端与信号处理装置(10)的输入端相连接；所述铠装高温光纤探头(3)包括自聚焦透镜(11)、反射膜(12)、高温光纤(13)、不锈钢波纹管(14)、不锈钢套管(15)，自聚焦透镜(11)的一端上镀设反射膜(12)，另一端上连接高温光纤(13)，高温光纤(13)尾部上套设不锈钢波纹管(14)，自聚焦透镜(11)上套设不锈钢套管(15)，反射膜(12) 上套设不锈钢套管(15)，自聚焦透镜(11)一端的不锈钢波纹管(14)上套设不锈钢套管(15)；所述法兰(6)为环形状，受光面进行了抛光或镀膜处理，抛光或镀膜后的表面反射率不小于75％；所述反射膜(12)的反射率为7‑10％。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学，未经电子科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610686511.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
