[发明专利]薄膜晶体管的特性检测装置和显示设备有效
申请号: | 201610685816.1 | 申请日: | 2016-08-18 |
公开(公告)号: | CN106291306B | 公开(公告)日: | 2018-11-23 |
发明(设计)人: | 徐飞;薛伟 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G02F1/1362 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;刘伟 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种薄膜晶体管的特性检测装置和显示设备。所述薄膜晶体管的特性检测装置,包括栅极测试端、源极测试端和与漏极测试端;源极测试端与工作电压输出端连接;所述薄膜晶体管的特性检测装置还包括:特性检测单元,分别与栅极测试端和漏极测试端连接,通过向所述栅极测试端分别输入不同的控制信号,并相应检测所述漏极测试端输出的电信号,以检测所述测试薄膜晶体管的开启电流、所述测试薄膜晶体管的关断电流和/或所述测试薄膜晶体管的开启延迟时间。本发明解决了现有技术中不能模拟显示面板远端TFT(薄膜晶体管)的特性情况来达到监控产品的目的,并不能检测测试薄膜晶体管的开启电流、所关断电流和/或开启延迟时间的问题。 | ||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 特性 检测 装置 显示 设备 | ||
【主权项】:
1.一种薄膜晶体管的特性检测装置,用于检测显示面板包括的测试薄膜晶体管的特性,包括栅极测试端、源极测试端和与漏极测试端;所述栅极测试端与所述测试薄膜晶体管的栅极之间通过第一连接线电连接,所述源极测试端与所述测试薄膜晶体管的源极之间通过第二连接线电连接,所述漏极测试端与所述测试薄膜晶体管的漏极之间通过第三连接线电连接;其特征在于,所述第一连接线的长度大于第一预定长度,所述第二连接线的长度和第三连接线的长度都大于第二预定长度,所述第一连接线的宽度小于第一预定宽度,所述第二连接线的宽度和所述第三连接线的宽度都小于第二预定宽度;所述源极测试端与工作电压输出端连接;所述薄膜晶体管的特性检测装置还包括:特性检测单元,分别与所述栅极测试端和所述漏极测试端连接,用于通过向所述栅极测试端分别输入不同的控制信号,并相应检测所述漏极测试端输出的电信号,以检测所述测试薄膜晶体管的开启电流、所述测试薄膜晶体管的关断电流和/或所述测试薄膜晶体管的开启延迟时间。
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