[发明专利]OLED显示装置驱动电路缺陷检测方法

摘要

本发明提供一种OLED显示装置驱动电路缺陷检测方法，该方法通过侦测第二节点的电压，并根据第二节点的电压是否在预设的标准电压范围内，判定所述OLED显示装置驱动电路是否存在缺陷，能够准确快速的检测出OLED显示装置驱动电路中的短路与断路缺陷，且该方法利用OLED显示装置的外部电压补偿架构实现，不需要额外购买检测设备，没有设备成本，能够提升OLED显示装置驱动电路缺陷检测效率，降低OLED显示装置驱动电路缺陷检测成本，保证产品质量。

主权项

1.一种OLED显示装置驱动电路缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、提供一OLED显示装置驱动电路，包括：第一薄膜晶体管(T1)、第二薄膜晶体管(T2)、第三薄膜晶体管(T3)、第一电容(C1)、有机发光二极管(D1)、以及第一开关(S1)；所述第一薄膜晶体管(T1)的栅极接入扫描信号(Scan)，源极接入数据信号(Data)，漏极电性连接第一节点(P)；所述第二薄膜晶体管(T2)的栅极电性连接第一节点(P)，源极接入第一电源电压(Ovdd)，漏极电性连接第二节点(Q)；所述第三薄膜晶体管(T3)的栅极接入侦测信号(Sen)，源极电性连接第三节点(K)，漏极电性连接第二节点(Q)；所述第一电容(C1)的一端电性连接第一节点(P)，另一端电性连接第二节点(Q)；所述有机发光二极管(D1)的阳极电性连接第二节点(Q)，阴极接入第二电源电压(Ovss)；所述第一开关(S1)的一端接入公共电压(Vcm)，另一端电性连接第三节点(K)；步骤2、所述扫描信号(Scan)和侦测信号(Sen)均提供高电位，第一和第三薄膜晶体管(T1、T3)均打开，所述数据信号(Data)提供第一电压至第一节点(P)，所述开关(S1)闭合，所述第二节点(Q)的电压等于公共电压(Vcm)；所述步骤2中第一电压大于第二薄膜晶体管(T2)的阈值电压且小于有机发光二极管(D1)的阈值电压，所述公共电压(Vcm)小于所述有机发光二极管(D1)的阈值电压，或第一电压小于第二薄膜晶体管(T2)的阈值电压，所述公共电压(Vcm)大于所述有机发光二极管(D1)的阈值电压；步骤3、所述扫描信号(Scan)和侦测信号(Sen)保持高电位，第一和第三薄膜晶体管(T1、T3)保持打开，所述数据信号(Data)继续提供第一电压至第一节点(P)，所述第一节点(P)保持第一电压，所述开关(S1)断开，所述第二节点(Q)的电压不断变化后重新稳定；步骤4、提供一模数转换器(ADC)以及与所述模数转换器(ADC)电性连接的一缺陷分析模块，利用所述模数转换器(ADC)侦测出所述第二节点(Q)的电压并传送给缺陷分析模块；步骤5、所述缺陷分析模块将所述模数转换器(ADC)传送来的第二节点(Q)的电压与预设的标准电压范围进行比较，当所述第二节点(Q)的电压超出预设的标准电压范围时，判定所述OLED显示装置驱动电路存在缺陷，当所述第二节点(Q)的电压在预设的标准电压范围内时，判定所述OLED显示装置驱动电路不存在缺陷。