[发明专利]芯片的寄存器的调试方法及装置有效
申请号: | 201610629676.6 | 申请日: | 2016-08-03 |
公开(公告)号: | CN106294143B | 公开(公告)日: | 2020-03-03 |
发明(设计)人: | 李江勇 | 申请(专利权)人: | 北京百度网讯科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京鸿德海业知识产权代理事务所(普通合伙) 11412 | 代理人: | 袁媛 |
地址: | 100085 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种芯片的寄存器的调试方法及装置。本发明实施例通过接收调试待调试芯片的操作指令,所述操作指令中包含用户提供的所述待调试芯片的寄存器物理地址,进而调用操作系统中驱动层的指定设备节点,以获得所述待调试芯片的寄存器物理地址所对应的所述待调试芯片的寄存器逻辑地址,使得能够根据所述待调试芯片的寄存器逻辑地址,操作所述待调试芯片的寄存器,由于不再单独针对某个芯片添加特定的调试接口,而是对所有芯片添加一的统一调试接口,使得调用统一调试接口,以调用操作系统中驱动层的指定设备节点,来调试全部的待调试芯片,从而提高了调试效率。 | ||
搜索关键词: | 芯片 寄存器 调试 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种芯片的寄存器的调试方法,其特征在于,包括:接收调试待调试芯片的操作指令,所述操作指令中包含用户提供的所述待调试芯片的寄存器物理地址;调用操作系统中驱动层的指定设备节点,以获得所述待调试芯片的寄存器物理地址所对应的所述待调试芯片的寄存器逻辑地址;根据所述待调试芯片的寄存器逻辑地址,操作所述待调试芯片的寄存器。
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