[发明专利]用于桥梁变形或位移参数的自校准式测量装置及方法

摘要

本发明公开了一种用于桥梁变形或位移参数的自校准式测量装置，包括成像系统(12)和安装在桥梁(11)测量点上的不少于一只的测量靶标(13)，其特征在于：还包括安装在桥梁(11)上变形或位移变化可忽略区域的基准靶标(14)，所述的基准靶标(14)和测量靶标(13)在成像系统(12)的敏感元的不同位置上成像，测量点的位移或变形参数根据测量靶标(13)和基准靶标(14)的测量结果，并扣除了因载荷加载引起的桥梁弯曲变形带来的影响后计算而得；本发明扣除因载荷加载引起的桥梁弯曲变形带来的影响，从而提高了系统测量精度。

主权项

1.用于桥梁变形或位移参数的自校准式测量方法，其特征在于，包括以下步骤：[1]安装：在桥梁上安装测量靶标和基准靶标，其中测量靶标安装在待测量点位置，基准靶标设置在变形或位移变化可忽略区域；[2]测量：开启成像系统，使得基准靶标和测量靶标在成像系统的敏感元的不同位置上成像；[3]校准：对成像系统进行数据处理，获取基准靶标和测量靶标的位移值；并根据基准靶标的位移值，对测量靶标的位移值进行修正校准，扣除因载荷加载引起的桥梁弯曲变形带来的测量误差，获得测量靶标所在测量点的真实位移值；其中步骤[3]中的校准步骤包括：[3.1]根据测量靶标的位置变化值，并结合测量靶标与成像系统之间的距离、成像系统的光学参数，计算得到测量靶标的位移值X1；[3.2]根据基准靶标的位置变化值，并结合基准靶标与成像系统之间的距离、成像系统的光学参数，计算得到基准靶标的位移值X0；[3.3]经校准后测量靶标所在的测量点的位移其中L1为成像系统与测量靶标之间的距离，L0为成像系统与基准靶标之间的距离。