[发明专利]一种FET微波噪声模型建立方法有效

专利信息
申请号: 201610617247.7 申请日: 2016-07-29
公开(公告)号: CN106250622B 公开(公告)日: 2019-05-24
发明(设计)人: 陈勇波 申请(专利权)人: 成都海威华芯科技有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 代理人: 徐丰;胡川
地址: 610029 四川省成都市*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及半导体集成电路制造领域,公开了一种FET微波噪声模型建立方法,包括:将FET电极划分为四个区域,栅极输入结构、漏极输出结构、源极接地结构、有源区电极,采用全波电磁场方法模拟微波信号在FET电极中的传输特性,获得各个区域的S参数;将FET有源区电极转换为等效电路模型,将获得的栅极输入结构的S参数、漏极输出结构的S参数以及源极接地结构的S参数分别接入三个连接端口,获得FET无源电极模型;对FET进行在片测试,获得小信号和噪声测试数据,并基于测试数据,经过去嵌入处理,获得FET本征部分的小信号参数和噪声源;将小信号参数和噪声源,按照端口对应关系,接入FET无源电极模型中,获得FET的微波噪声模型。
搜索关键词: 一种 fet 微波 噪声 模型 建立 方法
【主权项】:
1.一种FET微波噪声模型建立方法,其特征在于,包括如下内容:S101,将FET电极划分为四个区域,分别为栅极输入结构、漏极输出结构、源极接地结构、有源区电极,采用全波电磁场方法模拟微波信号在所述FET电极中的传输特性,获得各个区域的S参数;S102,将FET有源区电极转换为等效电路模型,所述等效电路模型包括与外部连接的三个连接端口,将S101中获得的栅极输入结构的S参数、漏极输出结构的S参数以及源极接地结构的S参数分别接入等效电路模型的三个连接端口,获得FET无源电极模型;S103,对FET进行在片测试,获得小信号和噪声测试数据,并基于所述测试数据,经过去嵌入处理,获得FET本征部分的小信号参数和噪声源;S104,将S103中获得的小信号参数和噪声源,按照端口对应关系,接入S102获得FET无源电极模型中,获得FET的微波噪声模型。
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