[发明专利]一种FET微波噪声模型建立方法有效
申请号: | 201610617247.7 | 申请日: | 2016-07-29 |
公开(公告)号: | CN106250622B | 公开(公告)日: | 2019-05-24 |
发明(设计)人: | 陈勇波 | 申请(专利权)人: | 成都海威华芯科技有限公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人: | 徐丰;胡川 |
地址: | 610029 四川省成都市*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明涉及半导体集成电路制造领域,公开了一种FET微波噪声模型建立方法,包括:将FET电极划分为四个区域,栅极输入结构、漏极输出结构、源极接地结构、有源区电极,采用全波电磁场方法模拟微波信号在FET电极中的传输特性,获得各个区域的S参数;将FET有源区电极转换为等效电路模型,将获得的栅极输入结构的S参数、漏极输出结构的S参数以及源极接地结构的S参数分别接入三个连接端口,获得FET无源电极模型;对FET进行在片测试,获得小信号和噪声测试数据,并基于测试数据,经过去嵌入处理,获得FET本征部分的小信号参数和噪声源;将小信号参数和噪声源,按照端口对应关系,接入FET无源电极模型中,获得FET的微波噪声模型。 | ||
搜索关键词: | 一种 fet 微波 噪声 模型 建立 方法 | ||
【主权项】:
1.一种FET微波噪声模型建立方法,其特征在于,包括如下内容:S101,将FET电极划分为四个区域,分别为栅极输入结构、漏极输出结构、源极接地结构、有源区电极,采用全波电磁场方法模拟微波信号在所述FET电极中的传输特性,获得各个区域的S参数;S102,将FET有源区电极转换为等效电路模型,所述等效电路模型包括与外部连接的三个连接端口,将S101中获得的栅极输入结构的S参数、漏极输出结构的S参数以及源极接地结构的S参数分别接入等效电路模型的三个连接端口,获得FET无源电极模型;S103,对FET进行在片测试,获得小信号和噪声测试数据,并基于所述测试数据,经过去嵌入处理,获得FET本征部分的小信号参数和噪声源;S104,将S103中获得的小信号参数和噪声源,按照端口对应关系,接入S102获得FET无源电极模型中,获得FET的微波噪声模型。
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