[发明专利]检测方法及装置有效
| 申请号： | 201610612626.7 | 申请日： | 2016-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN106017369B | 公开（公告）日： | 2019-01-15 |
| 发明（设计）人： | 姬向东 | 申请（专利权）人： | 努比亚技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 深圳协成知识产权代理事务所(普通合伙) 44458 | 代理人： | 章小燕 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区高新区北环大道9018*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种检测方法，所述方法包括：触发手机镜头模组对目标对焦图片进行对焦；采集所述手机镜头模组捕捉到的对象画面中至少两个区域的相位检测值；对所述至少两个区域的相位检测值进行分析，得到分析结果；所述分析结果满足预设条件时，确定所述手机镜头模组的互补金属氧化物半导体CMOS平整度达标。本发明同时还公开了一种检测装置。采用本发明，能够提高手机出厂时镜头模组的良品率。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种镜头检测装置，其特征在于，所述镜头检测装置包括：对焦模块，用于触发手机镜头模组对目标对焦图片进行对焦；采集模块，用于采集所述手机镜头模组捕捉到的对象画面中至少两个区域的相位检测值；分析模块，用于对所述至少两个区域的相位检测值进行分析，得到分析结果；确定模块，用于在所述分析结果满足预设条件时，确定所述手机镜头模组的互补金属氧化物半导体CMOS平整度达标；其中，所述预设条件用于根据所述分析结果和阈值进行所述CMOS平整度的判断。
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