[发明专利]一种同轴机电开关的寿命测试装置及方法

摘要

本发明公开了一种同轴机电开关的寿命测试装置及方法，属于测试技术领域，包括晶振、检波器、程控直流电源以及主控计算机；本发明中同型号两开关非公共端对应连接，晶振输出晶振信号至开关公共端一侧，同时主控计算机控制程控直流电源输出驱动电压，并控制数字I/O卡输出相应时序的控制信号，控制开关切换，晶振信号经开关另一侧传输至检波器，经检波器检波处理后转换为电信号，数据采集卡采集此电信号并传输至主控计算机，经过数据处理单元计算晶振信号经过开关的损耗来判断每次切换是否正常。本发明能够自动测试开关寿命，节约人力资源；实时监测开关每次切换的有效性，准确度高；多套开关同时测试，节约时间。

主权项

1.一种同轴机电开关的寿命测试方法，其特征在于：采用一种同轴机电开关的寿命测试装置，该装置包括晶振、检波器、程控直流电源以及主控计算机；晶振，被配置为用于提供晶振信号；检波器，被配置为用于将晶振信号转换为电信号；程控直流电源，被配置为用于为开关提供驱动电压；主控计算机包括数字I/O卡、数据采集卡以及数据处理单元；数字I/O卡，被配置为用于为开关提供控制信号；数据采集卡，被配置为用于采集检波器转换的电信号并传输至数据处理单元；数据处理单元，被配置为用于对数据采集卡采集的电信号进行数据处理；上电后，晶振输出晶振信号至开关，同时主控计算机控制程控直流电源输出驱动电压，并通过主控计算机的控制单元控制数字I/O卡输出相应时序的控制信号，控制开关切换，开关切换后的输出信号传输至检波器，经检波器检波处理后转换为电信号，数据采集卡采集此电信号并传输至数据处理单元，经过数据处理单元数据处理后可判断开关每次切换是否正常；按照如下步骤进行：步骤1：将多套同型号开关接入测试装置，具体包括：步骤1.1：将两套同型号开关的非公共端的接头一一对应连接；步骤1.2：将两套同型号开关的公共端的接头的一端连接至晶振，另一端连接至检波器；步骤1.3：重复步骤1.1‑步骤1.2，直至将多套同型号开关接入测试装置；步骤2：设定开关种类、驱动电压、切换周期、阈值、不合格点数后进行测试装置的初始化；步骤3：给晶振以及检波器上电，晶振输出晶振信号至开关；步骤4：主控计算机控制程控直流电源输出驱动电压，并通过主控计算机的控制单元控制数字I/O卡输出相应时序的控制信号，控制开关切换并按控制信号记录开关切换的次数；步骤5：开关切换后的输出信号传输至检波器；步骤6：检波器将开关切换的输出信号进行检波处理转换为电信号；步骤7：数据采集卡采集检波器检波的电信号送入主控计算机；步骤8：主控计算机通过数据处理单元判断数据采集卡采集的数据是否超出阈值；若：判断结果是数据超出阈值，则记录为不合格点，然后执行步骤9；或判断结果是数据没有超出阈值，则执行步骤4；步骤9：判断不合格点是否达到不合格点数；若：判断结果是达到不合格点数，则将对应采集数据的两套开关停止寿命测试，记录的开关切换次数即为开关寿命；或判断结果是没有达到不合格点数，则执行步骤4；步骤10：判断所有开关是否测试完毕；若：判断结果是所有开关都已经测试完毕，则执行步骤11；或判断结果是并非所有开关都测试完毕，则执行步骤4；步骤11：输出开关寿命测试数据；步骤12：测试结束。