[发明专利]一种发光二极管外延片的生长方法有效

专利信息
申请号: 201610597420.1 申请日: 2016-07-25
公开(公告)号: CN106229397B 公开(公告)日: 2019-05-14
发明(设计)人: 杨兰;万林;胡加辉 申请(专利权)人: 华灿光电(浙江)有限公司
主分类号: H01L33/12 分类号: H01L33/12;H01L33/00;H01L21/02;C23C16/44;C23C14/22
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 徐立
地址: 322000 浙江省金华市义*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种发光二极管外延片的生长方法,属于半导体技术领域。所述生长方法包括:进行多个阶段的升温,再将衬底在纯氢气气氛下进行热处理;降低温度沉积缓冲层;进行多个阶段的升温,再生长过渡层,过渡层为从二维生长先转为三维生长再转为二维生长的AlGaN层;升高温度沉积非掺杂GaN层;生长掺杂Si的GaN层,形成N型层;交替生长InGaN层和GaN层,形成多量子阱层;生长掺杂Mg的AlGaN层,形成P型电子阻挡层;生长掺杂Mg的GaN层,形成P型层;生长掺杂Mg的GaN层,形成P型接触层;同一阶段的温度恒定,且不同阶段的温度随时间的增长而升高。本发明适应大尺寸外延片的生产。
搜索关键词: 一种 发光二极管 外延 生长 方法
【主权项】:
1.一种发光二极管外延片的生长方法,其特征在于,所述生长方法包括:进行多个阶段的升温,再将衬底在纯氢气气氛下进行热处理;降低温度沉积缓冲层;进行多个阶段的升温,再生长过渡层,所述过渡层为从二维生长先转为三维生长再转为二维生长的AlGaN层;升高温度沉积非掺杂GaN层;生长掺杂Si的GaN层,形成N型层;交替生长InGaN层和GaN层,形成多量子阱层;生长掺杂Mg的AlGaN层,形成P型电子阻挡层;生长掺杂Mg的GaN层,形成P型层;生长掺杂Mg的GaN层,形成P型接触层,所述P型接触层的厚度小于所述P型层的厚度;其中,同一所述阶段的温度恒定,且不同所述阶段的温度随时间的增长而升高。
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