[发明专利]电学功能测试装置、系统及方法

摘要

本发明提供了一种电学功能测试装置、系统及方法，该电学功能测试装置包括：至少一个夹持工具，其被配置为能够夹持在电子设备的至少一个绑定区附近；至少一排探针，其被配置为当至少一个夹持工具夹持在电子设备的至少一个绑定区附近时，所述至少一排探针与所述至少一个绑定区中的多个引脚分别电连接；至少一个多路开关，每个多路开关的第一端包括多个端口，且通过一组导线与一排探针中的至少一组探针分别相连，其第二端包括至少一个端口，且能够与测量仪表连接，并且所述至少一个多路开关被配置为能够接通或断开所述第一端的多个端口中的每个端口与所述第二端的至少一个端口之间的电连接。

主权项

1.一种电学功能测试装置，包括：至少一个夹持工具，其被配置为能够夹持在电子设备的至少一个绑定区附近；至少一排探针，其被配置为当至少一个夹持工具夹持在电子设备的至少一个绑定区附近时，所述至少一排探针与所述至少一个绑定区中的多个引脚分别电连接；至少一个多路开关，每个多路开关的第一端包括多个端口，且通过一组导线与一排探针中的至少一组探针分别相连，其第二端包括至少一个端口，且能够通过导线与测量仪表连接，并且所述至少一个多路开关被配置为能够接通或断开所述第一端的多个端口中的每个端口与所述第二端的至少一个端口之间的电连接；其中，所述至少一个夹持工具包括一个夹持工具，所述至少一排探针包括一排探针，所述至少一个多路开关包括第一多路开关和第二多路开关，所述第一多路开关的第一端的多个端口通过第一组导线与所述一排探针中的第一组探针分别相连，所述第二多路开关的第一端的多个端口通过第二组导线与所述一排探针中的第二组探针分别相连；或者其中，所述至少一个夹持工具包括第一夹持工具和第二夹持工具，所述至少一排探针包括第一排探针和第二排探针，且被配置为当第一夹持工具夹持在电子设备的第一绑定区附近时，所述第一排探针与所述第一绑定区中的多个引脚分别电连接，当第二夹持工具夹持在电子设备的第二绑定区附近时，所述第二排探针与所述第二绑定区中的多个引脚分别电连接，所述至少一个多路开关包括第一多路开关和第二多路开关，所述第一多路开关的第一端的多个端口通过第一组导线与所述第一排探针中的探针分别相连，所述第二多路开关的第一端的多个端口通过第二组导线与所述第二排探针中的探针分别相连；或者其中，所述至少一个夹持工具包括一个夹持工具，所述至少一排探针包括一排探针，所述至少一个多路开关包括一个多路开关，所述多路开关的第一端的多个端口通过一组导线与所述一排探针中的探针分别相连，所述多路开关的第二端包括能够通过导线分别与测量仪表两个端口连接的两个端口，且所述多路开关被配置为能够接通或断开所述第一端的多个端口中的每个端口与所述第二端的两个端口中的一个端口之间的电连接。