[发明专利]一种过流组件测试装置在审
| 申请号： | 201610580398.X | 申请日： | 2016-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN106053118A | 公开（公告）日： | 2016-10-26 |
| 发明（设计）人： | 孔德卿;任海莹;刘营;魏骁;颜庆祥;徐善军;张培林 | 申请（专利权）人： | 北京国电富通科技发展有限责任公司 |
| 主分类号： | G01M99/00 | 分类号： | G01M99/00 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 马永芬 |
| 地址： | 100070 北京市丰台区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种过流组件测试装置，包括：测试平台，用于设置待测过流组件，在待测过流组件的外侧设置有用于测试的水循环管路；水循环系统，连接水循环管路，为水循环管路内的冷却水提供循环动力；水源系统，用于为水循环管路提供冷却水；还包括：去离子系统，分别与水源系统和水循环系统连接，将冷却水进行去离子化后送入水循环系统，解决了用于水冷测试的冷却水没有进行去离子操作，冷却水中电导率较高，易干扰测试结果，造成测试结果不准确的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 组件 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种过流组件测试装置，包括：测试平台，用于设置待测过流组件，在所述待测过流组件的外侧设置有用于测试的水循环管路；水循环系统，连接所述水循环管路，为所述水循环管路内的冷却水提供循环动力；水源系统，用于为所述水循环管路提供所述冷却水；其特征在于，还包括：去离子系统，分别与所述水源系统和所述水循环系统连接，将所述冷却水进行去离子化后送入所述水循环系统。
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