[发明专利]一种快速的磁性材料磁特性测量方法有效

专利信息
申请号: 201610571488.2 申请日: 2016-07-20
公开(公告)号: CN105929347B 公开(公告)日: 2019-02-22
发明(设计)人: 陈庆彬;陈超;陈为 申请(专利权)人: 福州大学
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12
代理公司: 福州元创专利商标代理有限公司 35100 代理人: 蔡学俊
地址: 350108 福建省福州市*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明涉及一种快速的磁性材料磁特性测量方法,提供一个被测闭磁路磁芯,被测磁芯分别绕设有激磁绕组和检测绕组,激磁绕组与电容和电阻串联形成闭合回路;激磁绕组上通有直流电流,电容上施加直流电压,被测闭磁路磁芯、电容和电阻满足衰减振荡的电路条件,通过测量激磁绕组的电流变化过程和检测绕组的电压变化过程得到磁芯在直流电流下的直流磁场强度对应的直流磁通密度、一簇不同磁通密度下的交流磁滞回线以及不同磁通密度下的磁芯损耗。本发明所提出的一种快速的磁性材料磁特性测量方法,具有测量周期短,容易获得深度饱和时的磁性特性曲线的优点。
搜索关键词: 一种 快速 磁性材料 特性 测量方法
【主权项】:
1.一种快速的磁性材料磁特性测量方法,其特征在于,提供一个被测闭磁路磁芯,所述被测闭磁路磁芯分别绕设有激磁绕组和检测绕组;所述激磁绕组与一电容以及一电阻串联形成闭合回路;在所述激磁绕组上通直流电流,在所述电容上施加直流电压,在所述被测闭磁路磁芯、所述电容和所述电阻满足衰减振荡的电路条件下,通过测量所述激磁绕组的电流变化过程和所述检测绕组的电压变化过程,得到所述被测闭磁路磁芯在所述直流电流下的直流磁场强度对应的直流磁通密度、一簇不同磁通密度下的交流磁滞回线以及不同磁通密度下的磁芯损耗;所述闭合回路的电路工作过程分为2个阶段:1)闭合开关后,经第一预设时间后,所述闭合回路达到稳定,并记所述电容电压uc(t)为UC0,所述激磁绕组电流i(t)为IL0;2)断开开关后,所述闭合回路产生LC并联谐振,所述检测绕组电压为u2(t),所述激磁绕组电流为i(t);经第二预设时间后,所述闭合回路达到稳定,所述电容电压uc(t)衰减为0,所述激磁绕组电流i(t)衰减为0。
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