[发明专利]TFT基板及其制作方法在审
申请号: | 201610566026.1 | 申请日: | 2016-07-18 |
公开(公告)号: | CN105977266A | 公开(公告)日: | 2016-09-28 |
发明(设计)人: | 李子然 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种TFT基板及其制作方法。本发明的TFT基板的制作方法,通过将数据线、栅极线、及栅极制作于同一层,可节约一道光罩,通过采用一道半色调光罩形成TFT基板中的多个过孔与像素电极,可节约一道光罩,从而与现有技术相比,本发明可以节约两道光罩,降低生产成本,节约制程时间,提高生产效率,且制程中不会对半导体层造成电性损伤。本发明的TFT基板,制程简单,生产成本低,且具有良好的电学性能。 | ||
搜索关键词: | tft 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种TFT基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供一基板(10),在所述基板(10)上沉积一金属层(11),采用一道光罩对所述金属层(11)进行图形化处理,得到数据线(21)、栅极线(22)、及连接至栅极线(22)一侧的栅极(23),所述数据线(21)与栅极线(22)相交叉,且所述栅极线(22)在交叉处断开,断开的两端分别位于所述数据线(21)的两侧;步骤2、在所述数据线(21)、栅极线(22)、栅极(23)、及基板(10)上沉积绝缘层(40),在所述绝缘层(40)上形成半导体层(31),采用一道光罩对所述半导体层(31)进行图形化处理,得到对应于栅极(23)上方的有源层(30);步骤3、在所述有源层(30)、及绝缘层(40)上形成钝化层(50),在所述钝化层(50)上形成光阻层(60),采用一道半色调光罩对所述光阻层(60)进行曝光、及显影,在所述光阻层(60)上形成第一通孔(61)、第二通孔(62)、第三通孔(63)、第四通孔(64)、及第五通孔(65),所述第一通孔(61)对应于所述数据线(21)上靠近所述有源层(30)的位置,所述第二通孔(62)与第三通孔(63)分别对应于所述有源层(30)上靠近所述数据线(21)的一侧与所述有源层(30)上远离所述数据线(21)的一侧,所述第四通孔(64)与第五通孔(65)分别对应于所述栅极线(22)断开的两端;同时在所述光阻层(60)上形成第一薄层区域(71)、第二薄层区域(72)与第三薄层区域(73)、以及除所述第一薄层区域(71)、第二薄层区域(72)与第三薄层区域(73)以外的厚层区域(75),所述第一薄层区域(71)位于所述第一通孔(61)与第二通孔(62)之间;所述第二薄层区域(72)位于所述第三通孔(63)的一侧,所述第三薄层区域(73)位于所述第四通孔(64)与第五通孔(65)之间;步骤4、沿所述第一通孔(61)、第二通孔(62)、第三通孔(63)、第四通孔(64)、及第五通孔(65)对所述绝缘层(40)与钝化层(50)进行干蚀刻处理,在所述绝缘层(40)与钝化层(50)上形成位于所述数据线(21)上靠近所述有源层(30)的位置上方的第一过孔(51)、及位于所述栅极线(22)断开的两端上方的第四过孔(54)与第五过孔(55),在所述钝化层(50)上形成位于所述有源层(30)上靠近所述数据线(21)一侧上方的第二过孔(52)、以及位于所述有源层(30)上远离所述数据线(21)一侧上方的第三过孔(53);步骤5、对所述光阻层(60)进行灰化处理,去除所述光阻层(60)的第一薄层区域(71)、第二薄层区域(72)与第三薄层区域(73),并薄化厚层区域(75);在剩余的光阻层(60)及钝化层(50)上形成导电薄膜(80);步骤6、剥离剩余的光阻层(60),同时去除位于所述光阻层(60)上方的导电薄膜(80),保留的导电薄膜(80)包括第一导电连接层(81)、第二导电连接层(82)、以及像素电极(83);所述第一导电连接层(81)分别通过所述第一过孔(51)与第二过孔(52)连接至所述数据线(21)与有源层(30),所述第二导电连接层(82)分别通过所述第四过孔(54)与第五过孔(55)连接至所述栅极线(22)断开的两端,所述像素电极(83)通过所述第三过孔(53)连接至所述有源层(30)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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