[发明专利]固定点数的二维等半径最大化泊松圆盘采样方法及系统有效
| 申请号： | 201610563518.5 | 申请日： | 2016-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN106204742B | 公开（公告）日： | 2019-03-08 |
| 发明（设计）人： | 孟维亮;严冬明;全卫泽;郭建伟;张晓鹏 | 申请（专利权）人： | 中国科学院自动化研究所 |
| 主分类号： | G06T17/30 | 分类号： | G06T17/30 |
| 代理公司： | 北京瀚仁知识产权代理事务所(普通合伙) 11482 | 代理人： | 宋宝库 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种固定点数的二维等半径最大化泊松圆盘采样方法和采样系统。其中，该方法包括根据用户指定的采样点数目和采样区域，生成第一采样点集；对所述第一采样点集进行Delaunay三角化，并提取Delaunay三角化结果中的最短边长作为第一采样半径；确定所述第一采样点集是否达到所述最大化泊松圆盘采样；在所述第一采样点集达到所述最大化泊松圆盘采样的情况下，记录所述第一采样点集及所述第一采样半径。通过本发明实施例解决了如何实现点数固定的最大化泊松圆盘采样的技术问题，可使得采样点集具有很好的蓝噪声性质，具有简单、易于实现、性能稳定且能够收敛的优点，可应用于图像渲染和纹理合成等应用中。 | ||
| 搜索关键词： | 固定 点数 二维 半径 最大化 圆盘 采样 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种固定点数的二维等半径最大化泊松圆盘采样方法，其特征在于，所述方法至少包括：步骤1：根据用户指定的采样点数目和采样区域，生成第一采样点集；步骤2：对所述第一采样点集进行Delaunay三角化，并提取Delaunay三角化结果中的最短边长作为第一采样半径；步骤3：确定所述第一采样点集是否达到所述最大化泊松圆盘采样；步骤4：在所述第一采样点集达到所述最大化泊松圆盘采样的情况下，记录所述第一采样点集及所述第一采样半径；步骤5：在所述第一采样点集未达到最大化泊松圆盘采样的情况下，从所述第一采样点集中移除全局最短边中邻域平均边长大的采样点，得到第二采样点集且对所述第二采样点集进行Delaunay三角化，以Delaunay三角化结果中的最短边长为第二采样半径来计算空隙区域，并采用投镖法将一随机采样点随机插入到所述第二采样点集的空隙区域，得到第三采样点集；步骤6：对所述第三采样点集进行Delaunay三角化，提取Delaunay三角化结果中的最短边作为第三采样半径，以更新所述第一采样半径并执行所述步骤3。
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