[发明专利]过零检测电路在审

专利信息
申请号: 201610554683.4 申请日: 2016-07-14
公开(公告)号: CN106291077A 公开(公告)日: 2017-01-04
发明(设计)人: 沙玉峰;唐开锋 申请(专利权)人: 重庆恒又源科技发展有限公司
主分类号: G01R19/175 分类号: G01R19/175;G01R15/22
代理公司: 北京一格知识产权代理事务所(普通合伙)11316 代理人: 滑春生
地址: 401121 重庆*** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 发明涉及LED照明控制技术领域,公开了一种过零检测电路。本发明中,过零检测电路包括:单向导通控制电路、光耦器件、上拉电路以及微处理器;所述单向导通控制电路,用于对输入的交流电进行转换,以向所述光耦器件输出一单向电流信号;所述光耦器件,在所述单向电流信号的驱动下处于导通状态,以及在无所述单向电流信号时处于关断状态;所述脉冲产生电路,用于根据所述光耦器件的导通状态和关断状态,向所述微处理器提供一单向脉冲信号;所述微处理器,用于检测所述单向脉冲信号的上升沿与下降沿之间的时间间隔,并根据所述时间间隔计算出所述交流电的过零点。本发明的过零检测电路,结构简单。
搜索关键词: 检测 电路
【主权项】:
一种过零检测电路,其特征在于,包括:单向导通控制电路、光耦器件、脉冲产生电路以及微处理器;所述单向导通控制电路,用于对输入的交流电进行转换,以向所述光耦器件输出一单向电流信号;所述光耦器件,在所述单向电流信号的驱动下处于导通状态,以及在无所述单向电流信号时处于关断状态;所述脉冲产生电路,用于根据所述光耦器件的导通状态和关断状态,向所述微处理器提供一单向脉冲信号;所述微处理器,用于检测所述单向脉冲信号的上升沿与下降沿之间的时间间隔,并根据所述时间间隔计算出所述交流电的过零点。
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