[发明专利]用于光学检测至少一种物体的检测器有效
| 申请号： | 201610552144.7 | 申请日： | 2012-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN106019305B | 公开（公告）日： | 2019-10-11 |
| 发明（设计）人： | I·布鲁德;F·艾克迈尔;P·埃尔克;R·森斯;S·伊尔勒;H·阿尔穆罕默迪;A·佩尔斯特;E·蒂尔 | 申请（专利权）人： | 巴斯夫欧洲公司 |
| 主分类号： | G01S17/88 | 分类号： | G01S17/88;G01S17/89;G01S17/93;G01S17/08 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 牛南辉;杨晓光 |
| 地址： | 德国路*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 提出一种用于光学检测至少一种物体(112)的检测器(110)。检测器(110)包含至少一个光学传感器(114)。光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(116)。光学传感器(114)设计为以依赖于传感器区域(116)的照射的方式产生至少一个传感器信号。在给定相同的照射总功率下，传感器信号依赖于照射几何学，特别是在传感器面积(118)上照射的光束截面。检测器(110)额外具有至少一个评价装置(122)。评价装置(122)设计为由传感器信号产生至少一个几何学信息项，特别是关于照射和/或物体(112)的至少一个几何学信息项。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 检测 至少 一种 物体 检测器 | ||
【主权项】：
1.一种用于光学检测至少一种物体(112)的检测器(110)，其包含至少一个光学传感器(114)，其中光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(116)，其中光学传感器(114)设计为以依赖于传感器区域(116)的照射的方式产生至少一个传感器信号，其中在给定相同的照射总功率下，传感器信号依赖于照射几何学，其中检测器(110)额外具有至少一个评价装置(122)，其中评价装置(122)设计为由传感器信号产生至少一个几何学信息项，其中所述至少一个传感器区域(116)包含至少一个传感器面积(118)，其中所述照射几何学包括在传感器面积(118)上照射的光束截面，以及其中所述几何学信息项包括由传感器信号在给定相同的照射总功率下依赖于照射几何学的效果直接或间接产生的任意所需信息项，其中所述几何学信息包含物体(112)的至少一个位置信息项，其中评价装置(122)设计为由照射几何学与物体(112)相对于检测器(110)的相对定位之间的至少一种预定关系确定几何学信息。
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