[发明专利]基于瞬态光栅效应的自参考光谱干涉飞秒激光脉冲测量装置在审
| 申请号: | 201610551527.2 | 申请日: | 2016-07-14 |
| 公开(公告)号: | CN106248225A | 公开(公告)日: | 2016-12-21 |
| 发明(设计)人: | 刘军;申雄;王鹏;李方家 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号: | G01J11/00 | 分类号: | G01J11/00;G01J3/02;G01J3/45 |
| 代理公司: | 上海新天专利代理有限公司31213 | 代理人: | 张泽纯;张宁展 |
| 地址: | 201800 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | 一种基于瞬态光栅效应的自参考光谱干涉飞秒激光脉冲测量装置,包括:四分之三镀膜反射镜、衰减延时片、第一离轴抛物面反射镜、三阶非线性光学介质、第二离轴抛物面反射镜、滤光板、透镜、单模光纤和光纤光谱仪;装置通过三阶非线性介质的瞬态光栅效应产生自参考光,并与一定延迟衰减了的待测光在空间上重合并聚焦入光谱仪获得自参考干涉光谱,利用傅里叶转换光谱干涉算法来重建待测光时域形状和相位以及频域光谱形状和相位。本发明提升了自参考光谱干涉方法的能量灵敏度,对于兆赫兹量级的飞秒激光脉冲,可以测量单脉冲能量低于单个纳焦的待测光。 | ||
| 搜索关键词: | 基于 瞬态 光栅 效应 参考 光谱 干涉 激光 脉冲 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种基于瞬态光栅效应的自参考光谱干涉飞秒激光脉冲测量装置,特征在于其构成包括:四分之三镀膜反射镜(M)、衰减延时片(P1)、第一离轴抛物面反射镜(PM1)、三阶非线性光学介质(P2)、第二离轴抛物面反射镜(PM2)、滤光板(A)、透镜(L)、单模光纤(F)和光纤光谱仪(S);所述的四分之三镀膜反射镜(M)等分为四个区域,其中三个区域镀高反膜,第四个区域不镀膜;部分入射光经所述的四分之三镀膜反射镜(M)的三个镀高反膜区域的反射后,射入所述的第一离轴抛物面反射镜(PM1),聚焦后射入所述的三阶非线性光学介质(P2)中产生一束瞬态光栅信号光,作为自参考光;部分入射光经所述的四分之三镀膜反射镜(M)的一个不镀膜区域的反射后,经所述的衰减延时片(P2)衰减和延时后,射入所述的第一离轴抛物面反射镜(PM1),聚焦后射入所述的三阶非线性光学介质(P2),作为待测光;所述的自参考光和待测光经所述的第二离轴抛物面反射镜(PM2)准直后,依次经所述的滤光板(A)和所述的透镜(L)聚焦入所述的单模光纤(F)中,并通过该单模光纤(F)将光导入所述的光纤光谱仪(S)中,获得光束的干涉光谱。
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