[发明专利]一种绝对值磁栅位移测量系统在审
申请号: | 201610545515.9 | 申请日: | 2016-07-12 |
公开(公告)号: | CN105953713A | 公开(公告)日: | 2016-09-21 |
发明(设计)人: | 刘坚伟;姜堃达 | 申请(专利权)人: | 上海平信机电制造有限公司 |
主分类号: | G01B7/00 | 分类号: | G01B7/00 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 陈亮 |
地址: | 201106 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种绝对值磁栅位移测量系统,由磁栅尺及读磁头组成,磁栅尺由磁性铁氧体橡胶和不锈钢带层叠复合而成,所述的磁性铁氧体橡胶上录制相互平行的两条磁道。与现有技术相比,本发明能够在系统断电后并重新上电时准确读出系统目前的位置值,而不会丢失位移量。 | ||
搜索关键词: | 一种 绝对值 位移 测量 系统 | ||
【主权项】:
一种绝对值磁栅位移测量系统,其特征在于,该测量系统由磁栅尺及读磁头组成,所述的磁栅尺由磁性铁氧体橡胶和不锈钢带层叠复合而成,所述的磁性铁氧体橡胶上录制相互平行的两条磁道,所述的读磁头由增量编码读取元件、绝对码道读取阵列、主控电路、驱动电路、电源管理电路组成,所述的电源管理电路为主控电路供电,所述的主控电路控制增量编码读取元件及绝对码道读取阵列工作,所述的驱动电路经主控电路驱动。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海平信机电制造有限公司,未经上海平信机电制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610545515.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种坛紫菜叶状体面积的测量装置与方法
- 下一篇:一种高强度支撑盘