[发明专利]模型构建方法和光散射成分检测方法在审
申请号: | 201610541945.3 | 申请日: | 2016-07-11 |
公开(公告)号: | CN106198321A | 公开(公告)日: | 2016-12-07 |
发明(设计)人: | 周真;张思琦;殷金英;牛訦琛;李昂 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨理工大学 |
主分类号: | G01N15/00 | 分类号: | G01N15/00;G01N15/02 |
代理公司: | 哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙) 23209 | 代理人: | 曹徐婷 |
地址: | 150080 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 本发明提供了一种模型构建方法和光散射成分检测方法。模型构建方法包括:选择预定浓度且颗粒物粒径分布均匀的流体介质样品,去除样品中的杂质,在颗粒物粒径大于预定阈值的情况下对样品进行超声波均质至微米级别;将样品置于光学显微镜下,移动样品以截取多组视野图像。对获取的多组视野图像进行色调及灰度调整;利用进行色调及灰度调整后的多组视野图像,获取样品的颗粒物粒径分布;根据样品的颗粒物粒径分布,建立多粒径分布颗粒物光散射特性模型。本发明的上述技术能够充分考虑多粒径分布的存在对流体介质中颗粒物光散射的影响,可以得到更为准确的光散射检测结果。 | ||
搜索关键词: | 模型 构建 方法 散射 成分 检测 | ||
【主权项】:
用于构建多粒径分布颗粒物光散射特性模型的模型构建方法,其特征在于,所述构建方法包括:选择预定浓度且颗粒物粒径分布均匀的流体介质样品,去除所述样品中的杂质,在颗粒物粒径大于预定阈值的情况下对所述样品进行超声波均质至微米级别;将所述样品置于光学显微镜下,移动所述样品以截取多组视野图像。对获取的多组视野图像进行色调及灰度调整;利用进行色调及灰度调整后的多组视野图像,获取所述样品的颗粒物粒径分布;根据所述样品的颗粒物粒径分布,建立多粒径分布颗粒物光散射特性模型。
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