[发明专利]毫米波安检仪调试系统及毫米波安检仪调试方法有效

专利信息
申请号: 201610528243.1 申请日: 2016-07-06
公开(公告)号: CN105938206B 公开(公告)日: 2017-09-15
发明(设计)人: 祁春超;孙超;赵术开;吴光胜;丁庆 申请(专利权)人: 华讯方舟科技有限公司;深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司
主分类号: G01V13/00 分类号: G01V13/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 代理人: 吴平
地址: 518102 广东省深圳市宝安区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种毫米波安检仪调试系统及毫米波安检仪调试方法,用于对毫米波全息成像安检系统的成像清晰度进行调试,其中,主控装置用于生成毫米波探测信号及参考信号。主控装置还用于在毫米波发射天线、毫米波接收天线及被测物体之间分别处于不同相对位置的情况下,将毫米波探测信号通过毫米波发射天线发射至被测物体,并通过毫米波接收天线接收从被测物体反射的回波信号,再根据参考信号及回波信号利用全息影像技术进行三维成像。主控装置最终可得出多个三维成像结果,从而可以确定毫米波发射天线、毫米波接收天线及被测物体之间的最佳相对位置,并应用至毫米波全息成像安检系统中,从而提高毫米波全息成像安检系统的成像清晰度。
搜索关键词: 毫米波 安检 调试 系统 方法
【主权项】:
一种毫米波安检仪调试系统,用于对毫米波全息成像安检系统的成像清晰度进行调试,其特征在于,包括主控装置、毫米波发射天线、毫米波接收天线及机械控制装置;所述主控装置分别与所述毫米波发射天线、所述毫米波接收天线电连接;所述毫米波发射天线或毫米波接收天线安装于所述机械控制装置上;所述主控装置用于生成毫米波探测信号及参考信号;所述主控装置还用于在所述毫米波发射天线、毫米波接收天线及被测物体之间分别处于不同相对位置的情况下,将所述毫米波探测信号通过所述毫米波发射天线发射至所述被测物体,并通过所述毫米波接收天线接收从所述被测物体反射的回波信号,再根据所述参考信号及所述回波信号利用全息影像技术进行三维成像;所述机械控制装置用于改变所述毫米波发射天线与所述毫米波接收天线之间的相对位置。
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