[发明专利]包括浮桥的用于电容式测量的集成电路

摘要

本发明涉及包括浮桥的用于电容式测量的集成电路。提供了一种电容式测量设备，其包括：(i)第一电子系统，被电参考至保护电位，并且能够连接到电容性电极，(ii)第二电子系统，被电参考至接地电位，以及(iii)激励装置，分别连接到所述保护和接地电位，从而在这些电位之间施加AC电压差。所述设备还包括以接地为参考的集成电路，所述集成电路包括：在其中实现了所述第一电子系统的第一安装区域，以及在其中实现了所述第二电子系统的第二安装区域。本发明还涉及使用该设备的系统以及该设备的用途。

主权项

1.一种电容式测量系统，包括：包括衬底的芯片，所述芯片包括：第一电子系统，在电气上以保护电位为参考，并且被配置为电容式检测一个或多个对象；第二电子系统，不同于第一电子系统，并且在电气上以接地电位为参考，接地电位不同于保护电位；激励电路，被耦合为产生第一电子系统处的保护电位；以及解耦电路，所述解耦电路包括电容器并且被配置为在维持保护电位和接地电位之间的隔离的同时通信地耦合第一电子系统和第二电子系统，其中：所述激励电路被配置为在保护电位和接地电位之间产生AC电压差，并且所述激励电路包括：AC电压源，以接地电位为参考，并且被配置为产生AC电压；以及电压供应电路，以保护电位为参考，并且被配置为接收来自AC电压源的AC电压以及产生用于以保护电位为参考的第一电子系统的供电电压。