[发明专利]检测图像传感器表面脏污缺陷的方法有效
| 申请号： | 201610513577.1 | 申请日： | 2016-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN106226270B | 公开（公告）日： | 2019-07-19 |
| 发明（设计）人： | 温柳康;黄辉;王华茂;刘建辉;罗菁冬 | 申请（专利权）人： | 深圳睿晟自动化技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种检测图像传感器表面脏污缺陷的方法。该检测图像传感器表面脏污缺陷的方法包括以下步骤：步骤S10：采用远心平行光源对图像传感器的表面进行照射；步骤S20：开启图像传感器，对图像传感器的表面进行成像操作，并采集图像传感器的表面及形成表面脏污缺陷粒子的图像数据；步骤S30：根据图像数据判断图像传感器的表面是否存在表面脏污缺陷的检测结果。应用本发明的技术方案可以解决现有技术中应用均匀发光的发光光源进行图像传感器表面脏污缺陷检测容易发生漏检情况的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 图像传感器 表面 脏污 缺陷 方法 | ||
【主权项】：
1.一种检测图像传感器表面脏污缺陷的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S10：采用远心平行光源对图像传感器的表面进行照射；步骤S20：开启所述图像传感器，对所述图像传感器的表面进行成像操作，并采集所述图像传感器的表面及形成表面脏污缺陷粒子的图像数据；步骤S30：根据所述图像数据判断所述图像传感器的表面是否存在表面脏污缺陷的检测结果；在采集所述图像数据之前，步骤S01：在检测处理模块中预先设置图像处理算法；在采集完成所述图像数据之后及在根据所述图像数据判断得到所述图像传感器的表面是否存在表面脏污缺陷的检测结果之前，步骤S02：所述检测处理模块通过所述图像处理算法分析所述图像数据以得到分析结果；在根据所述图像数据判断所述图像传感器的表面是否存在表面脏污缺陷的过程中，所述检测处理模块将所述分析结果与所述图像处理算法的无表面脏污缺陷的算法数据进行比对，以得到所述图像传感器的表面是否存在表面脏污缺陷的检测结果；在进行所述比对时，利用所述检测处理模块对图像数据与之前在检测处理模块中针对符合要求的图像传感器的算法数据进行比对。
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