[发明专利]一种PI环化率的检测方法在审
| 申请号： | 201610507101.7 | 申请日： | 2016-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN105892117A | 公开（公告）日： | 2016-08-24 |
| 发明（设计）人： | 何小波;钟兴进;张小新;张维维;巫景铭;王俐 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种PI环化率的检测方法，包括如下步骤：提供一液晶显示面板，所述液晶显示面板包括阵列基板、彩膜基板及通过封框胶封装在两者之间的液晶，所述彩膜基板靠近所述液晶的一侧涂覆有PI层；将所述彩膜基板从阵列基板上分离，清除所述彩膜基板的PI层上残留的液晶；在所述PI层上形成溴化钾薄膜；通过红外光谱仪测量得到溴化钾薄膜下的PI层的C‑N‑C吸光度A和C＝C吸光度B，则PI环化率为：(A/(B×C))×100％，其中C为标准值。通过本发明可以测的液晶显示面板中PI的环化率，若PI环化率异常，则可以分析与PI层制作的相关制程，完善制作流程，进而提高液晶显示面板的生产良率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 pi 环化 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种PI环化率的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：提供一液晶显示面板，所述液晶显示面板包括阵列基板、彩膜基板及通过封框胶封装在两者之间的液晶，所述彩膜基板靠近所述液晶的一侧涂覆有PI层；将所述彩膜基板从阵列基板上分离，清除所述彩膜基板的PI层上残留的液晶；在所述PI层上形成溴化钾薄膜；通过红外光谱仪测量得到溴化钾薄膜下的PI层的C‑N‑C吸光度A和C＝C吸光度B，则PI环化率为：(A/(B×C))×100％，其中C为标准值。
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