[发明专利]一种基于红外和紫外成像法的零值绝缘子检测方法

摘要

一种基于红外和紫外成像法的零值绝缘子检测方法，用于解决零值绝缘子的检测问题，其技术方案是，所述方法所述方法采用红外成像法检测绝缘子串中各个绝缘子的温度，同时采用紫外成像法检测绝缘子串中各个绝缘子的放电光斑面积，然后根据各个绝缘子的温度和放电光斑面积判断绝缘子串中是否存在零值绝缘子并对零值绝缘子进行定位。本发明利用红外成像法和紫外成像法联合检测绝缘子串中的零值绝缘子，不仅可以检测污秽干燥的绝缘子串，也可以对污秽湿润的绝缘子串进行快速、准确检测。该方法可为污秽绝缘子的维修或更换提供可靠依据，保证电力系统安全稳定运行。

主权项

1.一种基于红外和紫外成像法的零值绝缘子检测方法，其特征是，所述方法采用红外成像法检测绝缘子串中各个绝缘子的温度，同时采用紫外成像法检测绝缘子串中各个绝缘子的放电光斑面积，然后根据各个绝缘子的温度和放电光斑面积判断绝缘子串中是否存在零值绝缘子并对零值绝缘子进行定位；根据各个绝缘子的温度和放电光斑面积判断绝缘子串中是否存在零值绝缘子并对零值绝缘子进行定位的方法如下：a.当绝缘子串表面污秽干燥时，若有：max(T₁‑T_min,T₂‑T_min)＞1其中，T_min为绝缘子串中最低温度，T₁、T₂分别为绝缘子串中与最低温度绝缘子相邻的两片绝缘子的温度，则判断被检测的绝缘子串中有零值绝缘子，且零值绝缘子为绝缘子串中温度最低的绝缘子；b.当绝缘子串表面污秽湿润时，若有：其中，S₀为绝缘子串中最低温度绝缘子的放电光斑面积，S₁、S₂分别为绝缘子串中与最低温度绝缘子相邻的两片绝缘子的放电光斑面积，则判断被检测的绝缘子串中有零值绝缘子，且零值绝缘子为绝缘子串中温度最低的绝缘子。