[发明专利]一种光学探头与电磁场测量设备及它们的测量方法有效
| 申请号： | 201610466416.1 | 申请日： | 2016-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN106093599B | 公开（公告）日： | 2020-07-14 |
| 发明（设计）人： | 张业斌;田晓光;王昌雷;武帅;张思敏;盛永鑫 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01D5/30 |
| 代理公司： | 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 | 代理人： | 方荣肖 |
| 地址： | 230000 安徽省合*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光学探头与电磁场测量设备及它们的测量方法。光学探头包括准直器、起偏器、石英波片、电光晶体、高反射率介质片、入射光纤、以及石英玻璃管。按照准直器、起偏器、石英波片、电光晶体以及高反射率介质片的顺序依次组装在石英玻璃管中，入射光纤连接到准直器并固定在玻璃管管壁上。本发明具有体积小、集成度高、对被测电磁场干扰小、抗干扰能力强、空间分辨率高、动态范围大、响应带宽大、动态范围大、灵敏度可根据需要设计调节等优点。本发明还公开所述光学探头的测量方法、具有所述光学探头的电磁场测量设备、所述电磁场测量设备的测量方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 探头 电磁场 测量 设备 它们 测量方法 | ||
【主权项】：
一种灵敏度可调的用于电磁场测量的光学探头；其特征在于：其包括准直器(8)、起偏器(9)、石英波片(10)、电光晶体(11)、高反射率介质片(12)、入射光纤(13)、以及石英玻璃管(6)；按照准直器(8)、起偏器(9)、石英波片(10)、电光晶体(11)以及高反射率介质片(12)的顺序依次组装在石英玻璃管(6)中，入射光纤(13)连接到准直器(8)并固定在玻璃管(6)管壁上。
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