[发明专利]一种SMT物料盘X射线透视图像分割检测与计数统计方法及装置

摘要

本发明提供了一种SMT物料盘X射线透视图像分割检测与计数统计方法，该方法首先对采集到的SMT物料盘X射线透视图像进行增强预处理，然后利用圆形拟合算法得到物料盘中心点坐标与最内环排列中位于起始位置的器件，最后按照目标器件与中心点的位置关系约束模型对分割区域进行精准限定，并通过划分分割界限完成最粘连区域的去粘连与计数统计工作。与现有技术相比，本发明的SMT物料盘X射线透视图像分割检测与计数统计方法准确率较高，实用性较强。

主权项

一种SMT物料盘X射线透视图像分割检测与计数统计方法，其特征在于，该方法包括：第一步骤，采集现实场景中的SMT物料盘X射线透视图像；第二步骤，预处理增强显示效果；第三步骤，拟合物料盘中心点、寻找最内环排列中起点位置元器件并标记为关键信息点；第四步骤，对粘连器件区域进行法向位置信息约束；第五步骤，对粘连器件区域进行先验位置信息约束；第六步骤，划分分割界限完成分割与统计工作。