[发明专利]一种检测集成电路的测试探针卡有效
| 申请号： | 201610455200.5 | 申请日： | 2016-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN105929208B | 公开（公告）日： | 2019-06-04 |
| 发明（设计）人： | 王文庆 | 申请（专利权）人： | 深圳市三盈佳电子材料有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 重庆创新专利商标代理有限公司 50125 | 代理人： | 尹梅 |
| 地址： | 518118 广东省深圳市坪*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种检测集成电路的测试探针卡，其探针座上成型有探针孔，探针孔内插接有探针，探针包括中部的止挡部，止挡部的上端面检测杆，检测杆的上端露出探针座的上端面，止挡部的下端成型有螺柱，螺柱上螺接有上永磁体，上永磁体的下侧的探针座探针孔内插接有下永磁体，下永磁体上端面的磁极和上永磁体下端面的磁极相同；探针座探针孔的侧壁上成型有凹槽，探针座凹槽内插接有竖直的导电片，导电片的上端成型有圆弧形的弹性部，弹性部压靠在探针的止挡部上，弹性部的下端弯折成型有连接部，连接部通过导电螺钉和下永磁体相连接导电螺钉抵靠在检测电路板上。它结构简单，制造及组装方便，能避免因弹簧机械疲劳失效而造成的接触不良。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 集成电路 测试 探针 | ||
【主权项】：
1.一种检测集成电路的测试探针卡，包括探针座(1)和检测电路板(7)，探针座(1)上成型有探针孔(11)，探针孔(11)内插接有探针(2)，探针(2)包括中部的止挡部(21)，止挡部(21)的上端面连接有检测杆(22)，检测杆(22)的上端露出探针座(1)的上端面，其特征在于：止挡部(21)的下端成型有螺柱(23)，螺柱(23)上螺接有上永磁体(3)，上永磁体(3)的下侧的探针座(1)探针孔(11)内插接有下永磁体(4)，下永磁体(4)上端面的磁极和上永磁体(3)下端面的磁极相同；探针座(1)探针孔(11)的侧壁上成型有凹槽，探针座(1)凹槽内插接有竖直的导电片(5)，导电片(5)的上端成型有圆弧形的弹性部(52)，弹性部(52)压靠在探针(2)的止挡部(21)上，弹性部(52)的下端弯折成型有连接部(51)，连接部(51)抵靠在下永磁体(4)的下端面并与 导电螺钉(6)相连接在一起，导电螺钉(6)抵靠在检测电路板(7)的导电区域上；所述探针(2)止挡部(21)的侧壁上成型有切槽(211)，导电片(5)的弹性部(52)压靠在止挡部(21)切槽(211)的底面上。
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