[发明专利]一种LED 模组漏电测试方法

摘要

本发明涉及LED的质量检测技术领域，特别涉及一种LED模组漏电测试方法。该LED模组漏电测试方法包括以下步骤：（1）确定LED模组所用芯片的开启电压；（2）确定LED模组中LED芯片的串并联关系；（3）确定LED模组的最小开启电压；（4）通过LED分光分色设备判断LED模组的开启电压是否大于所有并联支路的最小开启电压，如果大于此值被判定为LED模组漏电符合标准，否则不符合。本发明方法运用于LED分光设备，解决了LED模组漏电在分光时不能判定的问题，提升了制程效率和产品的可靠性。

主权项

一种LED 模组漏电测试方法，其特征在于：包括以下步骤：（1）确定LED 模组所用芯片的开启电压：根据LED 模组所用芯片的规格书确定该芯片的额定电压和开启电压，记录后备用；（2）确定LED 模组中LED芯片的串并联关系：将LED芯片分别进行标记，标记后绘制LED 模组的电路图，根据绘制的电路图判断各LED芯片的串并联关系，记录后备用；（3）确定LED 模组的最小开启电压：将步骤（2）中绘制的电路中的各并联支路分别标号，然后计算各并联支路中串联LED芯片的总电压，所述总电压为同一并联支路中所有LED芯片开启电压的总和；通过计算后得到各个并联支路的开启电压，取其中最小值为最小开启电压；（4）通过LED分光分色设备判断LED模组的开启电压是否大于所有并联支路的最小开启电压，如果大于此值被判定为LED模组漏电符合标准，否则不符合。