[发明专利]一种基于失效物理的电子产品热循环试验加速因子及试验方案确定方法有效
| 申请号： | 201610416388.2 | 申请日： | 2016-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN106055910B | 公开（公告）日： | 2020-06-16 |
| 发明（设计）人： | 苏昱太;付桂翠;万博;裴淳 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F119/08 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种基于失效物理的电子产品热循环试验加速因子及试验方案确定方法包括如下步骤：步骤1：基准热循环试验条件特征向量的确定；步骤2：电子产品特征矩阵的确定；步骤3：热循环试验条件特征矩阵的确定；步骤4：不同热循环试验条件下电子产品寿命特征矩阵的计算；步骤5：不同热循环试验条件电子产品加速因子的确定；步骤6：目标热循环试验方案的确定。该方法适用于分析电子产品热循环试验条件的应力水平，计算目标热循环试验条件与基准热循环试验条件相较的加速因子，可用于确定与基准热循环试验方案具有相同试验应力水平的电子产品热循环试验方案，属于电子产品热循环试验技术领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 失效 物理 电子产品 循环 试验 加速 因子 方案 确定 方法 | ||
【主权项】：
一种失效物理的电子产品热循环试验加速因子及试验方案确定方法，其特征在于：基于失效物理模型，即Coffin‑Manson模型，对比基准热循环试验条件，分析确定目标热循环试验条件下电子产品加速因子，并利用加速因子确定目标热循环试验方案。该方法的具体步骤如下：步骤1：基准热循环试验条件特征向量的确定；步骤2：电子产品特征矩阵的确定；步骤3：热循环试验条件特征矩阵的确定；步骤4：不同热循环试验条件下电子产品寿命特征矩阵的计算；步骤5：不同热循环试验条件电子产品加速因子的确定；步骤6：目标热循环试验方案的确定。
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