[发明专利]光学微腔、力测量装置及方法、模量测量方法及显示面板有效
| 申请号： | 201610407392.2 | 申请日： | 2016-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN106124096B | 公开（公告）日： | 2019-03-12 |
| 发明（设计）人： | 张晓晋;于成生;谢蒂旎 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 |
| 主分类号： | G01L1/24 | 分类号： | G01L1/24 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 李烨;李峥 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明的实施例提供光学微腔、力测量装置及方法、模量测量方法及显示面板。光学微腔包括：光致发光层，被配置为产生光。光子晶体层，设置于光致发光层的一侧，被配置为反射光致发光层产生的光，并且透射用于光致发光层的激励光。以及半透半反层，设置于光致发光层的另一侧并且与光子晶体层相对，被配置为部分透射并且部分反射光致发光层产生的光。力测量装置包括：光学微腔以及至少一个光学传感器。根据本发明的实施例，提供了结构简单，易于批量制作的光学微腔、力测量装置以及显示面板，以及易于实现的力测量方法和模量测量方法。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 装置 方法 测量方法 显示 面板 | ||
【主权项】：
1.一种力测量装置，包括：光学微腔，被配置为发出特定波长的光；至少一个光学传感器，被配置为检测所述光学微腔发出的光；其中，所述光学微腔包括：光致发光层，被配置为产生光；光子晶体层，设置于所述光致发光层的一侧，被配置为反射所述光致发光层产生的光，并且透射用于所述光致发光层的激励光；以及半透半反层，设置于所述光致发光层的另一侧并且与所述光子晶体层相对，被配置为部分透射并且部分反射所述光致发光层产生的光；其中，所述力测量装置还包括：激励光源，被配置为提供用于所述光致发光层的激励光。
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