[发明专利]基于干涉的接触角光学测量方法有效

专利信息
申请号: 201610404157.X 申请日: 2016-06-08
公开(公告)号: CN106092832B 公开(公告)日: 2018-10-02
发明(设计)人: 董华来;杨兴;郑泉水;宋一鸣 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01N13/02 分类号: G01N13/02
代理公司: 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 代理人: 吴大建
地址: 100084 北京市海淀区1*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种测量接触角的光学测量方法,包括:选取一带有待测液滴的基底平面;应用可变波长的单色光源对待测液滴进行照明,从而在待测液滴表面产生干涉条纹;在可变波长的单色光源发出的单色光的波长从λ变化到λ+Δλ的时间间隔内,对条纹的移动个数k进行计数;通过条纹的移动个数k、待测液滴的折射率n和光源的波长λ得出待测液滴的高度h;测得待测液滴在基底平面上的沿与基底平面垂直的方向上的投影区域的俯视直径d;通过待测液滴的高度h与俯视直径d得出待测液滴的接触角θ。本发明可以在俯视观察的条件下简单、精确地测量出小液滴的接触角,能够弥补常见的通过侧面观察测量接触角的方法的不足之处。
搜索关键词: 基于 干涉 接触角 光学 测量方法
【主权项】:
1.一种基于干涉的接触角光学测量方法,包括:选取一带有待测液滴的基底平面;应用可变波长的单色光源对所述待测液滴进行照明,从而在所述待测液滴表面产生干涉条纹;在所述可变波长的单色光源发出的单色光的波长从λ变化到λ+Δλ的时间间隔内,对所述条纹的移动个数k进行计数;通过条纹的移动个数k、待测液滴的折射率n和光源的波长λ、波长变化量Δλ得出待测液滴的高度h;测得待测液滴在所述基底平面上的沿与所述基底平面垂直的方向上的投影区域的俯视直径d;通过待测液滴的高度h与俯视直径d得出待测液滴的接触角θ。
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